简介:摘要在软件开发过程中,软件开发者面临着将缺陷数量降到最低程度的挑战。采用缺陷密度指标,开发者可以明确产品优化的可能性。由于缺陷总数取决于模块大小,因此开发者需要计算模块的最佳大小使得缺陷密度降到最低。本文阐述了一种改进模型,可以反映缺陷密度和不同模块大小之间的关系。通过设定参数约束条件获取不同的变量和参数值,使用拟建模型与相关方面的三组有效数据进行检验。并且采用曲线拟合法来获取具有缺陷密度最小的模块尺寸。实验结果表明利用有效的软件模块大小分布,可对缺陷密度进行优化;大的模块可分割成小的模块,小的模块可合并在一起,从而使得整体缺陷密度最小化。