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  • 简介:随着电子元器件的小型化,高集成度的发展,电子组装技术也经历了以下几个发展阶段,手工(50年代)——》半自动插装浸焊(60年代)——》全自动插装波峰焊(70年代)——》SMT(80年代)一》窄间距SMT(90年代)——》如今的超窄间距SMT。

  • 标签: QUAD QFN 焊接 NO 电子组装技术 电子元器件
  • 简介:本文初步讨论了同分析电力半导体运行失效机理有关的九个基本问题。指出在深刻了解所用器件特点的基础上,充分掌握具体的实际运行工况,做好热分析和热计算,选好器件参数和相应冷却系统,保证在运行的任何工况下,器件都不会超出相应的安全工作区,才能真正用好这些器件。

  • 标签: 电力半导体器件 失效机理 基本问题 讨论
  • 简介:电力电子技术中,不断有新名词大量涌现,据统计,几乎平均每5年,电子电源方面就会出现一批的科技新名词。10年前出现的典型的电力电子新名词有:

  • 标签: 名词 电力电子技术 汉译 电子电源 LOW PROFILE
  • 简介:抑制电磁干扰的影响是一项复杂的系统工程,为了抑制变频控制系统的电磁干扰。根据电磁干扰的基本构成、干扰的种类,探讨了变频传动系统中功率器件开关干扰的抑制、元器件的布局与布线、接地设计、屏蔽和隔离、滤波、计算讥控制系统的电磁兼容问题。从一般电气系统的电磁兼容性的问题探讨,结合变频调速电气系统电磁干扰产生原因的具体情况,探讨了采取的相应抑制措施。

  • 标签: 电磁兼容性 控制 变频调速 屏蔽 接地 隔离
  • 简介:随着以计算机为先导的电路信号传输高速化的迅速发展,其中一个非常重要的问题就是:要求PCB在高速信号传输中保持信号稳定,不产生误动作,这就要求所使用的PCB的特性阻抗控制精度化的提高。对特性阻抗控制精度提出更为严格的要求,这对PCB制造厂来说确实是很大的挑战,为此,本文针对如何满足客户严格的阻抗控制精度要求方面进行探讨,希望能对PCB制造业同行有所帮助。

  • 标签: 阻抗控制 阻抗控制精度
  • 简介:本文主要针对盲槽产品的制作流程及加工方法的控制作探讨,盲槽孔主要是利用已经钻好槽孔板和PP与另一张板进行压合形成。压合盲槽板时PP上所钻的槽孔大小设计/品质及PP本身流胶量严重影响成品盲槽的品质,本次主要以影响盲槽孔品质的几个因素作实验层别:PP槽孔大小分别比成品槽孔单边大0.4mm、0.6mm、0.8mm;PP厚度15mil3张;Pp铣槽孔时叠板数为6、9、12。结论:PP槽孔单边大0.8mm最优,15mil厚的PP铣板叠板数9张时铣出的PP压合后槽孔品质符合要求,叠板数越少铣槽的效果越好;介层总厚度相同时,PP选用的张数越少压合时流胶越少,盲槽孔孔形越好。

  • 标签: 盲槽孔 槽孔 叠板 设计 流程 控制
  • 简介:城镇二次加压泵站在同样的水泵设备配置情况下,采用不同种的工艺运行方式其能耗有着很大的差别。文中通过对泵站4种常用运行方式的电耗分析,探讨了城镇二次加压泵最佳的工艺运行方式及电耗的计算方法。

  • 标签: 水厂 城镇二次加压泵站 运行方式 能耗 给水泵 供水系统
  • 简介:本文就CJB165-93中的“方法5020体积电阻率与表面电阻率”在某些叙述上的错误和不够严谨这处作了探讨,也为今后修订该标准提出了一些建议。

  • 标签: 国军标 覆铜箔板 绝缘电阻 试验方法
  • 简介:本文结合实际SMT混装组件制,阐述SMT混装组件失效的机理,介绍了环境应力筛选试验的情况和结果,对影响可靠性的各种因素进行了分析与总结,提出了提高可靠性的措施,指出了环境应力筛选是保证SMT混装组件产品可靠性的必要工作手段,它可排除早期故障、使产品可靠性接近设计的固有可靠性水平。

  • 标签: 环境应力筛选 SMT 高可靠性 失效 排除 保证
  • 简介:当前国内外ROHS指令已开始执行,由于铅对人体危害严重,指令法定所有的电子设备中禁止使用铅等有害物质。近来无铅焊接已在全球推广。在此大环境下,航天系统也免不了受到冲击和影响,如有不少单位,从国外采购的元器件,大都已采用无铅镀层,工艺人员仍采用有铅工艺,设备,标准,进行有铅,无铅器件混合组装,导致了某些型号的产品,重复出现焊接的质量问题。无铅焊接是大势所趋,航天电子产品也只有顺应潮流,学习总结国内先进的无铅焊接工艺,合理的选择焊料,印制板涂层/镀层,制定无铅焊的标准,保证电子产品采用无铅焊接工艺的质量。

  • 标签: 航天电子产品 无铅焊接 实施方法
  • 简介:摘要:在现代科技飞速发展的背景下,集成电路作为电子产品核心的组成部分,其封装与测试技术的重要性日益凸显。集成电路封装,不仅是硬件连接的关键步骤,还直接影响着电子设备的性能、稳定性和寿命。封装与测试技术的创新与优化,对于提升电子产品在全球市场上的竞争力具有决定性影响。本文旨在深入探讨集成电路封装与测试在电子产品中的应用现状、挑战及未来发展趋势。

  • 标签: 集成电路 封装测试 电子产品 应用探讨