简介:针对体系结构缺乏有效的分析、评估方法,提出了基于可执行体系结构的分析、评估方法。该方法将体系结构分析分为静态分析和动态分析,静态分析以分析体系结构数据一致性、数据完整性及数据合法性、数据变更影响,以及数据挖掘为主,说明各种分析方法的内涵及效果;动态分析将可执行体系结构动态特征分为三个方面:时间相关分析、资源相关分析及可靠性相关分析,这三个方面分别描述了体系结构执行的动态特征,并为可执行体系结构评估提供依据。可执行体系结构评估从三个层次说明了体系结构的评价标准,将体系结构评估从定性评估推进到具体的定量评估,为体系结构的合理指导实践提供可靠依据。
简介:在半导体制造工业中,参数测试作为有效的对在线制品的监控手段,一方面反映了工艺线的工艺水平状况,另一方面它也是制造公司与设计公司之间进行沟通的主要依据。而对于新工艺研发来说,参数测量及分析更是整个研发过程中极其重要的一部分,及时准确的参数测量结果是产品工程师快速作出工艺研发方向的判断依据。因此,芯片参数测量分析的主要作用在于:在工业生产中得到大量的测量数据,用于评价工艺设备、半导体材料和电路结构,监视和控制工艺和器件参数的均匀性、重复性、协调性,分析工艺中存在的缺陷,诊断电路性能失常规律,预测成品率,预报可靠性信息等等。文章主要介绍了运用参数测试对在线工艺异常进行可靠性评估的方法。