Ion Photon Emission Microscope for Single Event Effect Testing in CIAE

(整期优先)网络出版时间:2017-07-17
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离子光子排放显微镜学(IPEM)是新导致离子的排放显微镜学。它与高精力和在一件样品上侵犯的低fluence率采用一根宽广离子横梁。一个单个离子的位置被一个光系统与联合的客观透镜,棱柱,显微镜试管和充电检测设备(电荷耦合器件)。与Ag离子做的一部薄ZnS电影被用作光材料。在照耀的Cl离子创造的ZnS(Ag)电影的光子的产生效率和传播效率是计算的。一个单个Cl离子光显微镜的图象被高量效率电荷耦合器件观察。在这个IPEM系统给的一个单个Cl离子的分辨率是6m。影响分辨率的几个因素被讨论。一根硅二极管被用来收集事件离子引起的电的信号。光图象和电子信号的有效、意外的巧合被说明。单个事件效果的一张二维的地图根据有效巧合的数据被抽出。