简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：TH70396021316激光圆偏振镜相移参数的测量=PhaseretardationmeasurementofCO2lasercircularpolarizer[刊,中]/周凤晴,李晓平,陈清明（华中理工大学激光技术国家重点实验室。湖北,武汉（430047））∥激光技术。—1995,19（4）。—193—196CO2激光圆偏振镜是CO2激光器在工业加工中的重要光学元件,本文描述一种测量这种光学元件相

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

简介：

简介：草地蒸散直接影响近地层大气和下垫面间的能量和水分交换,从而影响大气边界层结构和气候。因此利用涡度相关技术测量北京市郊草地蒸散及气象因素数值,并利用相关分析、灰关联、BP神经网络方法定量地分析气象因素对蒸散的影响。分析结果表明,正确率由高到低依次为BP神经网络法、相关分析法、灰关联法;各因素对其影响权重由大至小排序为:太阳辐射、气温、大气相对湿度、水平风速、垂直风速;在植被生长季节,蒸散速率随有效光辐射、气温、水平风速、垂直风速的增加,大气相对湿度的下降而升高。

简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TB922002032253基于线阵CCD阵列的在线检测方法=New3DsurfacemeasurementonlinebasedonlinearCCDarrays[刊,中]/周鸿,赵宏(西安交通大学机械学院激光与红外应用所.陕西,西安(710049))//半导体技术.-2001,26(11).-1-4利用矩形光栅离焦投影,产生正弦光场,通过三个严格排列的线阵CCD阵列对物体三维轮廓进行扫描采样测量,一次扫描就可以获得三幅相位图。重点讨论了该方法的原理和特点,并给出试验简图及实际测量结果。图8(李瑞琴)

简介：TB812.52002010504胶片分析系统形成色偏原因分析及校正方法=Analysisonreasonsofcolorcastforminginafilmanalyzingsystemandcalibrationmethod[刊,中]/王雪晶,郝志航(中科院长春光机所.吉林,长春(130022))∥光电工程.—2000,27(6).—17-20

简介：由于同步装置工作时有脉冲高电压、大电流输出，产生的电磁环境十分复杂和恶劣，对周围的组件及测试系统产生较严重的影响，在台面联试、半总装联试及总装联试等不同状态下，经常出现由于干扰问题，影响程控等装置正常工作，使系统联试工作无法正常进行，严重时还会造成程控等装置损坏。因此，需要测量高压脉冲大电流在环境中的辐射频谱和幅度，为系统中其他组件的电磁兼容设计提供技术依据。

简介：O644.162000031974卟啉与吩噻嗪分子间和分子内的光致相互作用=Pho-toinducedintermolecularandintramolecularinteractionsbetweenphenothiazineandporphyrin[刊,中]/贺学忠(清华大学生物科学与技术系.北京(100084)),周亚琳,张曼华,沈涛(中科院感光化学研究所.北京(100101))//高等学校化学学报.—1999,20

简介：TB842003053774耐水性丝网印刷感光高分子性能研究=Researchonpropertiesofwaterresistantphotosensitivepolymerforscreenprinting[刊,中]/黄毓礼(北京化工大学材料科学与工程学院.北京(100029)),王淑芳…//高分子材料科学与工

简介：

简介：TB8896042600底片缺陷分析及鉴别仪器=Analysisofphotographicfilmdefectsanditsdiscriminators[刊,中]/周宏(国家照相机质量监督检验中心)∥照相机.—1995,(10).—23—25对各种一般的及特殊的情况提出底片的缺陷,并简要分析底片缺陷产生的原因,用表格形式将各种缺陷归类,并确定它属于何种类型的缺陷,以便查阅。由于肉眼直接观察来分析底片缺陷已不能满足摄影及

简介：~~

简介：TN252005010358光纤端面衍射场光束参数及其测量=Beamparametersindiffractedfieldoffiberendfaceandthemeasurement[刊,中]／林斌(浙江大学光电系,现代光学仪器国家重点实验室,国家光学仪器工程技术研究中心．浙江,杭州(310027)),王科…∥光子学报．-2004,33(3).-294-298基于非傍轴标量光束的传播理论和横截面上光强的

简介：海峡两岸由于经济发展水平和教材编写理念的不同，两岸高中化学教材在编写上存在差异，以大陆鲁科版和台湾三民书局版的《影响平衡因素》的教材为例，通过对比，找出教材编写顺序和教材编写特点上的不同之处，并且对两种教材的处理提出几点认识。

简介：本文分析了密里根油滴实验中影响油滴控制的主要因素,并提出了相应的对策。