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  • 简介:本文概述了UPS由模拟控制改为数字控制的意义。介绍了逆变器的数字PID控制、重复控制、无差拍控制等三种数字控制方式的原理。详细推导了重复控制、无差拍控制UPS的数学模型和控制方法。针对无差拍控制的鲁棒性问题和控制延时问题,提出了相应的解决方案。最后简要介绍了滑模变结构控制和模糊控制的原理,指出了数字控制技术发展的趋势。

  • 标签: UPS 逆变器 数字控制
  • 简介:高性能信号处理技术通常可能需要直接对中频信号进行采样来得到正交两路信号。文中采用Bessel插值法将一路中频数字信号分解成两路正交数字信号,从而实现了数字正交相干检波处理,同时重点给出了选用FPGA实现这一过程的详细解决方案。

  • 标签: 中频正交采样 FPGA Bessel插值
  • 简介:近年来,随着元器件的小型、高速,开关电源的控制部分正在向数字方向发展。由于数字,使开关电源的控制部分的智能、元器件的共通化、电源的动作状态的远距离监测成为了可能。开关电源市场中,从质量、交货期等方面,标准电源正在成长壮大。然而,电源的使用方法因系统不同而有所不同,所以现有状况是对特制电源的需求很强烈。数字控制开关电源集标准电源和特制电源的优点于一身,成为业界关注的焦点。

  • 标签: 数字电源 焦点 数字化控制 开关电源 控制部分 标准电源
  • 简介:智能小区是智能城市的基本单元,它已成为建筑行业中继智能建筑之后的又一个热点。文中给出了由园区周界防护系统、视频监控系统、电子巡更系统、联网型可视对讲系统、家庭多媒体信息系统和家庭安防系统构成的标准小区智能信息系统的组建模式和具体实现方法。

  • 标签: 标准小区 智能信息系统 监控
  • 简介:从近日举办的主题为“中国市场的环境管理与安全”的全球半导体研讨会上获悉,中国半导体行业的新标准有望设立。

  • 标签: 半导体行业 标准 中国市场 环境管理
  • 简介:最近兴起了分布式发电技术,诸如光伏发电、燃料电池和微型叶轮机。然而,这类电源需要接口来控制管理与电例的连接。这些连接装置的核心是电力电子装置,例如逆变器,因为电力电子装鼹本身县有多功能性,不仅可以提供基本的连接功能,还可以提供多种多样的实用功能。本文介绍标准的逆变器馈电方式和在常规电力系统中应用同步发电机的下垂控制方法对基于逆变器的分布式发电系统进行频率调节和功率平衡的可能性。

  • 标签: 分布式发电系统 馈电方式 逆变器 标准化 智能电网 接口
  • 简介:说明根据《中华人民共和国劳动法》的有关规定,为了进一步完善国家职业标准体系,为职业教育、职业培训和职业技能鉴定提供科学、规范依据,劳动和社会保障部、信息产业部共同组织有关专家,制定了《印制电路制作工国家职业标准》(以下简称《标准》)。

  • 标签: 国家职业标准 印制电路 制作 中华人民共和国 职业技能鉴定 信息产业部
  • 简介:近日,中国科学院半导体研究所科研人员在新型高速直接数字频率合成(DDS)芯片研制中取得突破性进展,采用0.35μm常规互补金属氧化物半导体电路(CMOS)工艺,研制出合成时钟频率达2kMHz的新一代不需要只读存储器的低功耗直接数字频率合成(ROM-LESSDDS)高速芯片。目前,这种CMOSDDS结构方式的芯片速度指标处于国际同类芯片领先地位,此前国际上报道的类似芯片的合成时钟频率仅为1.2kMHz。

  • 标签: 频率合成芯片 直接数字频率合成(DDS) 中国科学院半导体研究所 时钟频率 高速芯片 突破性进展
  • 简介:以往,选用手持式还是台式万用表是有明确的界限的。如果你做设计工作或需要很高的精确度,那么就应选择台式万用表。而今天,日益变小的元件使得手持式万用表和台式表的性能差异变得很小。手持式万用表已接近如式表的性能。它们基本可以交换使用。

  • 标签: 数字万用表 ESCORT98/99 分辨率 准确度 真有效值测量
  • 简介:本文简要介绍了挠性印制电路基材的几种产品种类使用国内、外的几种标准,重点评述了中国国家标准,美国IPC标准,日本JISC标准和JPCA标准等几种适用于挠性印制电路基材的常用标准,比较了几种常用标准的性能要求种类、典型测试方法的区别及侧重点。

  • 标签: 挠性印制电路板基材 标准 简述
  • 简介:为了低损耗开关模式电源(SMPS)结构的最佳,硅工艺技术的进步已经使MOSFET几代器件持续地具有较高的跨导,并且使得前几代器件被逐渐淘汰。然而当这些高跨导的器件应用于线性模式时,具有热集中的倾向。由于已发表的分析方法需要硅器件数据的支持,而这些数据常常涉及知识产权,因此向电路的设计者提供这些方法几乎是不能使用的。本文介绍了使用非知识产权的规一的芯片面积信息作为评价在线性模式应用中的MOSFET器件适用性的客观标准

  • 标签: 数字革命 系统集成 系统集成芯片 绝缘衬底上的硅
  • 简介:介绍了半导体测试中的良率数据记录格式。阐述了标准测试数据格式(STDF)的优点以及结构。给出了将STDF用于半导体测试过程中,以减少花费、增加效率、缩短良率提升时间测试数据标准的新思路。

  • 标签: 测试 STDF FAR 良率