简介:针对体系结构缺乏有效的分析、评估方法,提出了基于可执行体系结构的分析、评估方法。该方法将体系结构分析分为静态分析和动态分析,静态分析以分析体系结构数据一致性、数据完整性及数据合法性、数据变更影响,以及数据挖掘为主,说明各种分析方法的内涵及效果;动态分析将可执行体系结构动态特征分为三个方面:时间相关分析、资源相关分析及可靠性相关分析,这三个方面分别描述了体系结构执行的动态特征,并为可执行体系结构评估提供依据。可执行体系结构评估从三个层次说明了体系结构的评价标准,将体系结构评估从定性评估推进到具体的定量评估,为体系结构的合理指导实践提供可靠依据。
简介:文章针对集成电路产品的封装长期可靠性,期可靠性的考评,按照国际标准的要求进行了分析。了研究和总结,并且针对实际产品进行了案例分析。用条件下长期使用的稳定性,有一定的应用价值。
简介:随着半导体大功率器件的发展,芯片的散热一直是制约功率器件发展的因素之一。而器件内部散热主要是通过芯片背面向外传导,芯片焊接工艺是直接影响器件散热好坏的关键因素之一,合金焊料的一个显著优点就是其导热性能好,因此在散热要求高的大功率器件中使用较为广泛(如Au80Sn20、Au99.4Sb0.6等),但由于合金焊料烧结后会产生较大的残余应力,在尺寸大于8mm×8mm的芯片上,烧结工艺应用较少。文章针对11.5mm×11.5mm超大面积芯片进行金锡合金烧结试验,经过对应力产生的原因进行分析,从材料、封装工艺等方面采取措施来降低缓释应力,并对封装产品进行可靠性考核验证。试验结果表明,没有芯片存在裂纹、碎裂现象,产品通过了可靠性验证。