简介:摘要:本研究旨在探讨飞针测试系统中测试点布局对测试效率的影响。通过系统性的测试布局优化,我们研究了不同布局策略对测试过程的性能和效率的影响。研究结果表明,合理的测试点布局可以显著提高测试效率,降低测试时间和成本,提高测试精度。本研究为飞针测试系统的性能优化提供了重要参考,有助于提高电子设备制造过程中的质量控制和生产效率。
简介:摘要:本文设计了一种新的测试芯片测试装置,通过更简单的结构就实现对芯片多个位置的功能检测。本设计在于提供一种通过一个电机驱动蜗轮蜗杆,再带动单凸轮轴实现多个运动的测试装置,以解决现有技术中测试芯片的测试装置内部机构复杂,体积大费用高的问题。