屏蔽效能测试研究

屏蔽效能测试研究

王新才 杜金珅 尹航

海研芯（青岛）微电子有限公司  山东  青岛  266100

摘要：为研究屏蔽效能的测试方法和系统搭建，以及不同产品的屏蔽效能测试应用，本文针对不同标准方法的屏蔽效能测试做了详细分析。

关键词：屏蔽效能、电磁兼容、测试标准

1.研究背景

屏蔽效能测试是衡量屏蔽材料或屏蔽体对电磁波衰减能力的重要技术手段。随着信息技术的飞速发展，电磁环境变得日益复杂，电磁信息泄漏、电磁兼容和电磁干扰等问题对电子仪器、人类及生态环境的安全构成了威胁。因此，电磁屏蔽技术在军用和民用领域都显得尤为重要。电磁屏蔽材料通过其对电磁波的反射、吸收和多次内部反射等作用，将电磁辐射的影响限制在一定空间内，防止其传播与扩散。新型屏蔽材料的开发和应用是当前的研究热点。新型屏蔽材料不仅要具备优异的屏蔽效能，还要有超低密度、出色的柔韧性等特性，以适应便携式可穿戴仪器和航空航天材料的需求。例如，MXene材料因其高导电性和独特的电磁屏蔽机制，在电磁干扰屏蔽领域显示出巨大潜力。屏蔽效能测试标准的制定和修订也是研究的重要内容。例如，国家标准计划《平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法》由全国电磁屏蔽材料标准化技术委员会归口，旨在规范和统一测试方法，提高测试结果的准确性和可靠性。屏蔽效能测试对于评估和优化电磁屏蔽材料的性能至关重要，而新型屏蔽材料的开发和测试方法的标准化则是当前研究的主要方向。随着科技的进步和新材料的不断涌现，屏蔽效能测试技术也在不断发展和完善。

屏蔽效能测试是一种评估屏蔽材料或屏蔽体对电磁波衰减能力的方法。它通过测量屏蔽前后电磁场的强度变化来确定屏蔽效能，通常以分贝（dB）表示，其计算公式为SE = 20lg(E1/E2)，其中E1为无屏蔽时的场强，E2为有屏蔽时的场强。屏蔽效能测试方法多样，包括屏蔽室窗口测试法、小屏蔽体窗口测试法、法兰同轴装置测试法等。这些方法通过模拟不同的电磁环境，评估屏蔽材料在不同频率下的性能。例如，屏蔽室窗口测试法适用于10 kHz~40 GHz的频率范围，而法兰同轴装置测试法则适用于30 MHz~3 GHz的频率范围。在实际应用中，屏蔽效能的测试需要考虑多种因素，如测试频率、屏蔽材料的电磁特性、测试环境等。屏蔽效能测试还涉及到屏蔽体上孔缝的影响。实际上，屏蔽体上的缝隙、开孔以及电缆穿透等缺陷会急剧劣化屏蔽体的屏蔽效能。因此，在设计屏蔽体时，需要特别注意这些缺陷的处理，以确保屏蔽效能满足要求。

总的来说，屏蔽效能测试是电磁兼容性测试中的一个重要环节，对于确保电子仪器的正常运行和提高仪器的电磁兼容性具有重要意义。通过选择合适的测试方法和标准，可以准确评估屏蔽材料或屏蔽体的性能，为屏蔽设计提供科学依据。

2.屏蔽效能测试方法

2.1 屏蔽室窗口测试法

屏蔽室窗口测试法是一种广泛应用于电磁兼容性测试的方法，它通过在屏蔽室的金属壁上开一个窗口，将待测样品安装在窗口上，以此来测量屏蔽效能。

测试原理：该方法基于电磁波的等效传输线理论，通过测量窗口内外的电磁场强度，计算屏蔽效能。屏蔽效能的计算公式为SE = 20lg(E1/E2) dB，其中 E1 为无屏蔽时的电场强度，E2 为有屏蔽时的电场强度。

适用频率范围：该方法适用于从直流到40 GHz的频率范围，但最常用的频率范围是10 kHz至1 GHz。

测试系统组成：测试系统通常包括射频信号发生器、功率放大器、接收天线、频谱分析仪以及必要的测试软件。

测试步骤：首先在无屏蔽条件下测量窗口处的电场强度，然后在有屏蔽条件下重复测量，最后计算两次测量结果的差值，得出屏蔽效能。

数据分析：通过对比不同频率下的屏蔽效能，可以评估屏蔽材料在不同电磁环境下的性能。

2.2 小屏蔽体窗口测试法

小屏蔽体窗口测试法适用于较小尺寸屏蔽材料的屏蔽效能测试，通常在开阔场地或微波暗室中进行。

测试原理：与屏蔽室窗口测试法类似，小屏蔽体窗口测试法也是通过测量窗口内外的电磁场强度来计算屏蔽效能。

适用频率范围：该方法的适用频率范围通常为1 GHz至18 GHz，适合高频电磁波的屏蔽效能测试。

测试系统组成：测试系统与屏蔽室窗口测试法相似，但可能需要更高频率的天线和放大器。

测试步骤：在测试前需要对测试环境进行校准，确保无反射波或其他干扰。然后按照与屏蔽室窗口测试法相同的步骤进行测量。

数据分析：小屏蔽体窗口测试法可以提供更精确的高频屏蔽效能数据，有助于评估屏蔽材料在高频应用中的性能。

2.3 法兰同轴装置测试法

法兰同轴装置测试法是一种适用于测量电薄材料屏蔽效能的方法，它通过模拟均匀平面波环境来进行测试。

测试原理：该方法使用同轴传输线小室，内导体为连续导体，外导体为法兰，可以拆卸以安装测样品品。测试时，通过测量装置内外的电磁场强度来计算屏蔽效能。

适用频率范围：法兰同轴装置测试法的适用频率范围为30 MHz至3 GHz，适合中低频电磁波的屏蔽效能测试。

测试系统组成：测试系统包括信号发生器、功率放大器、接收天线、频谱分析仪以及同轴传输线小室。

测试步骤：首先在无屏蔽条件下测量装置内的电场强度，然后在有屏蔽条件下重复测量，计算屏蔽效能。

数据分析：法兰同轴装置测试法能够提供电薄材料在中低频范围内的屏蔽效能数据，对于评估材料在特定频率下的性能具有重要意义。

3.屏蔽效能标准

屏蔽效能测试包括了信号的产生、放大、传输和测量等内容。现行关于材料屏蔽效能测试主要有GB/T30142-2013、GJB/Z 158-2011、GB/T25471-2010、GJB6190-2008等都有详细规定。其中GB/T30142-2013是在以上标准的基础上总结归纳而来，其规定的测试方法有屏蔽室窗口测试法、小屏蔽体窗口测试法、30MHz~1.5GHz法兰同轴装置测试法及30MHz~3GHz法兰同轴装置测试法。

GB/T 12190-2006《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》是中国国家标准，规定了各边尺寸不小于2.0m的电磁屏蔽室屏蔽效能的测量和计算方法。该标准适用于测试频率范围为9kHz～18GHz的电磁屏蔽室，为电磁兼容性测试提供了重要的技术依据。

测试频率范围：9kHz～18GHz，覆盖了从低频到微波频段的广泛范围，确保了屏蔽效能测试的全面性。

测量方法：包括了对电磁屏蔽室的屏蔽效能进行精确测量的方法，这些方法经过了严格的科学验证，确保了测试结果的准确性和可靠性。

应用领域：该标准不仅适用于军事和航空领域，也被广泛应用于通信、医疗、汽车等行业，对于提高产品在复杂电磁环境下的性能和可靠性具有重要意义。

GB/T 30142-2013《平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法》是针对平面型电磁屏蔽材料的国家标准，规定了10kHz～40GHz频率范围内屏蔽效能的测量方法。该标准适用于电磁屏蔽织物、金属板、金属网等多种材料。

适用材料：包括了电磁屏蔽织物、金属板、金属网、玻璃、薄膜、塑料、橡胶等，覆盖了市场上主要的电磁屏蔽材料类型。

测量频率：10kHz～40GHz的频率范围，确保了对材料在不同频率下的屏蔽效能进行全面评估。

测试方法：提供了详细的测试步骤和仪器要求，包括对测试环境、仪器校准、测量不确定度等方面的规定，以确保测试结果的科学性和准确性。

GJB 6785-2009《军用电子仪器方舱屏蔽效能测试方法》是军用标准，规定了9kHz～18GHz频率范围内军用电子仪器方舱的屏蔽效能测试方法。该标准对于保障军事装备的电磁兼容性和安全性具有重要作用。

适用对象：专门针对军用电子仪器方舱，考虑到了军事装备的特殊性和对电磁兼容性的高要求。

测试频率：覆盖了9kHz～18GHz的频率范围，确保了对军用方舱在关键频率范围内屏蔽效能的测试。

测试要求：对测试环境、仪器、操作步骤等都有严格的规定，以确保测试结果能够真实反映军用方舱的屏蔽效能。

4.屏蔽效能的测试方法

4.1 法兰同轴测试法

4.1.1 测量条件

测量条件应满足以下要求：

环境温度：23℃士5℃；

环境相对湿度：40%~75%；

大气压力：86kPa~106kPa；

样品测量前应在上述环境中保持48h；

环境电磁噪声不应对测量结果产生影响。

4.1.2 测量频率点

采用法兰同轴装置法开展测量时，推荐在30MHz、80MHz、300MHz、450MHz、915MHz、1GHz、1.5GHz、1.8GHz、2.45GHz、3GHz等频率点给出测量结果，并尽量满足用户对测量频率范围和频率点的要求。

4.1.3 被测样品要求

用法兰同轴装置测量屏蔽效能的被测样品应满足以下要求：

a.被测样品分参考样品和负载样品，参考样品和负载样品应是电薄材料。

b.参考样品和负载样品的材质应相同，30MHz~1.5GHz法兰同轴装置法对被测样品的形状和尺寸要求见图1，30MHz~3GHz法兰同轴装置法对被测样品的形状和尺寸要求见图2。图1a)、图2a）中参考样品分为两部分（画有阴影部分），测量时，中间圆形部分安装在装置的中心导体上，环形部分安装在装置的外导体法兰上。

c.被测样品应在温度23C士5℃、相对湿度40%~75%的条件下存放48h后，立即开展测量。

d.参考样品和负载样品厚度应相等（当两种样品平均厚度之差小于25um时，本方法认为参考样品和负载样品厚度相等），各自表面各点厚度之差应小于平均厚度的5%。

e.将被测样品夹放在法兰同轴装置中，并夹紧被测样品，使被测样品与装置法兰面紧密接触，避免因接触不良而引起的测量误差。

f.由于噪声电平会影响接收机的灵敏度，因此测量屏蔽效能值高于60dB以上的待测样品时应使用双层屏蔽或半刚性电缆。

a)参考样品                              b)负载样品

图1 参考样品和负载样品的尺寸要求（30MHz~1.5GHz法兰同轴装置法）

a)参考样品                            b)负载样品

图2 参考样品和负载样品的尺寸要求（30MHz~3GHz法兰同轴装置法）

4.1.4 信号发生器或频谱分析仪测量方法

使用信号发生器或频谱分析仪测量方法的步骤如下：

a.按图3连接测量系统，将信号发生器通过衰减器接入该装置的一端，装置的另一端通过衰减器与频谱分析仪相连，测量时注意测量电缆应尽量短；

b.接通测量仪器的电源，待仪器工作稳定后进行测量；

c.将参考样品固定于法兰同轴装置中，采用30MHz~1.5GHz法兰同轴装置时，用力矩改锥拧紧尼龙螺钉，采用30MHz~3GHz法兰同轴装置时，拧紧旋钮固定并标记至某一个刻度；

d.信号发生器调到30MHz频率点上，输出电平置于0dBm，调节频谱分析仪频率至30MHz，读取最大值，并记下此读数P1(dBm）；

e.保持信号发生器输出电平不变，改变信号发生器的输出频率，测量参考样品在不同频率点上的P1(dBm)；

f.调松法兰同轴装置，取出参考样品，将负载样品固定于装置中，采用30MHz~1.5GHz法兰同轴装置时，用力矩改锥以c中相同力矩拧紧尼龙螺钉，采用30MHz~3GHz法兰同轴装置时，拧紧旋钮至c步骤的同一刻度；

g.保持信号发生器频率和输出电平不变，观察频谱分析仪读数，如果读数大于它的噪声电平至少10dB，记下此时频谱分析仪的读数P2（dBm）；

h.保持信号发生器的电平输出不变，改变信号发生器的输出频率，测量负载样品在不同频率点上的P2(dBm)；

i.被测样品屏蔽效能应按公式（1）计算：

SEdb=P1-P2-------------------------------------------(1)

图3 信号发生器/频谱分析仪测量方法连接示意图

4.2 带跟踪信号源的频谱分析仪测量方法

使用带跟踪信号源的频谱分析仪测量屏蔽效能的步骤如下：

a.按图4要求连接测量系统，将带跟踪信号源的频谱分析仪的输出端与法兰同轴装置的一端连接，输入端与装置的另一端相连；

b.接通测量仪器的电源，待仪器工作稳定后进行测量；

c.将参考样品固定于法兰同轴装置中，采用30MHz~1.5GHz法兰同轴装置时，用力矩改锥拧紧尼龙螺钉，采用30MHz~3GHz法兰同轴装置时，拧紧旋钮固定并标记至某一个刻度；

d.对测量系统做传输校准；

e.调松法兰同轴装置，取出参考样品，将负载样品固定于装置中，采用30MHz~1.5GHz法兰同轴装置时，用力矩改锥以c中相同力矩拧紧尼龙螺钉，采用30MHz~3GHz法兰同轴装置时，拧紧旋钮至c步骤的同一刻度；

f.测量负载样品的屏蔽效能。

图4 带跟踪信号源的频谱分析仪测量方法示意图

4.3网络分析仪测量方法

使用网络分析仪测量屏蔽效能的步骤如下：

a.按图5要求连接测量系统，将网络分析仪输入端与法兰同轴装置的一端相连接，输出端连接装置另一端；

b.接通测量仪器的电源，待仪器工作稳定后进行测量；

c.将参考样品固定于法兰同轴装置中，采用30MHz~1.5GHz法兰同轴装置时，用力矩改锥拧紧尼龙螺钉，采用30MHz~3GHz法兰同轴装置时，拧紧旋钮固定并标记至某一个刻度；

d.对测量系统做传输校准；

e.调松法兰同轴测量装置，取出参考样品，将负载样品固定于装置中，采用30MHz~1.5GHz法兰同轴装置时，用力矩改锥以c中相同力矩拧紧尼龙螺钉，采用30MHz~3GHz法兰同轴装置时，拧紧旋钮至c步骤的同一刻度；

f.测量负载样品的屏蔽效能。

图5使用网络分析仪测量屏蔽效能示意图

4.4屏蔽室测试法

4.4.1 屏蔽室

屏蔽室测试窗为正方形，边长不小于0.6米，适用频率范围为10kHz~40GHz，方形孔中心距屏蔽室地面高度不小于1米，方形孔边界距侧墙不小于0.5米。方形孔边沿法兰宽度不小于25毫米，法兰应做导电处理。

如仅用于1GHz~40GHz屏蔽效能测量，测试窗尺寸可为0.3米*0.3米，边界距侧壁不小于0.1米，方形孔边沿法兰宽度不小于25毫米，法兰应做导电处理，应保证屏蔽室内天线沿距侧壁不小于0.1米。

4.4.2 信号发生器信号发生器应满足以下要求：

频率范围：10kHz~40GHz；

输出阻抗：50Ω；

电压驻波比：<2.0；

最大输出功率：≥13dBm。

4.4.3 频谱分析仪

频谱分析仪应满足以下要求：

频率范围：9kHz~40GHz；

特性阻抗：50Ω；

最小分辨率带宽：≤1kHz。

4.4.4 前置放大器

前置放大器应满足以下要求：

频率范围：10kHz~40GHz；

增益：30dB。

4.4.5 测量天线

各个频段推荐使用的天线如下表1：

表1

4.4.6测量频点要求

一般在每10倍频程内选择不少于3个频率点，推荐优先选择表2中的测量频率点，并尽量满足用户对测量频率范围和频率点的要求。测量时应避开屏蔽室的谐振频率点。

法兰同轴装置法适用于电薄材料的屏蔽效能测量，根据测量频率范围分为30MHz~1.5GHz法兰同轴装置法、30MHz~3GHz法兰同轴装置法。屏蔽室法适用于屏蔽材料在10kHz~40GHz频率范围的屏蔽效能测量。屏蔽室屏蔽效能应大于被测材料屏蔽效能至少6dB。也可采用屏蔽半暗室或屏蔽全暗室。

表2

4.4.7被测样品要求

用屏蔽室法测量屏蔽效能的被测样品应满足以下要求：

a.被测样品的面积应大于屏蔽室测试窗的尺寸，被测样品表面应平整；

b.如被测样品表面绝缘，应将被测样品边沿绝缘表面部分除去，露出导电表面，保证被测样品安装时被测样品四周边沿与测试窗有良好的导电连接。

4.4.8测量配置

将被测样品放置在屏蔽室测试窗时，测试窗的法兰面上应安装导电衬垫，导电衬垫的屏蔽效能应大于样品屏蔽效能10dB以上。被测样品的边沿用导电胶带封贴，将被测样品贴在测试窗上，用压力钳或螺钉固定被测样品，保证被测样品与屏蔽室测试窗良好的电连接，避免因电接触不良引入测量偏差。

接收天线放置在屏蔽室内部，发射天线放置在屏蔽室外部。屏蔽室内尽量避免放置与测量无关的金属物体。在测量过程中，天线、仪器等屏蔽室内的其他物体，位置保持不变。10kHz~30MHz频率范围内测量磁场屏蔽时，环天线采用共轴法布置；10kHz~30MHz频率范围内测量电场屏蔽时，天线采用垂直放置，天线放置高度要保证天线杆底部与测试窗底部平行；在30MHz~40GHz频率范围内，测试天线应垂直极化放置，发射、接收天线对准屏蔽室测试窗的中心；200MHz~1000MHz频率范围内，优先选择偶极天线。天线距屏蔽材料的距离应满足表3的要求。

表3

4.4.9测量步骤

屏蔽效能测量步骤如下：

a．按图6或图7连接测量仪器，测量仪器按要求进行预热；

b．打开屏蔽室测试窗；

c．设置发射仪器的输出电平，读取频谱分析仪上所有测量频率点的电平值；

d.将被测样品安装在测试窗上，并将所有的压力钳（或专用螺钉）锁紧；

e.保持信号发生器各频率点输出电平与c中相同，读取频谱分析仪上所有测量频率点的电平值；

f.根据公式计算各测量频率点被测样品的屏蔽效能大小。

图 6

图 7

5. 屏蔽效能测试结果分析

5.1 屏蔽效能测试结果对比

在对比GB/T 12190-2006和GB/T 30142-2013两种屏蔽效能测试标准时，我们发现在1 GHz以下频率范围内，GB/T 12190-2006的测试结果普遍比GB/T 30142-2013高出约7 dB，而在1 GHz以上频率范围内，两者的测试结果相差约5 dB，且呈现出一定的波动交叉趋势。这一差异可能与测试方法、测试环境、以及测试仪器的不同有关。例如，GB/T 12190-2006在低频段使用的测试距离为0.3 m，而在高频段则为1.7 m和0.3 m的组合，而GB/T 30142-2013则规定了在所有频段测试时，发射和接收天线与受样品间的距离均为0.6 m。此外，两种标准在校准参考方式上也有所不同，GB/T 12190-2006采用自由空间校准，而GB/T 30142-2013采用窗口校准方式。

5.2 天线测试距离对结果的影响

测试中发现，天线测试距离对屏蔽效能的测试结果有显著影响。在相同的测试条件下，改变天线测试距离会导致测试结果出现较大差异。例如，在0.6 m窗口条件下，依据GB/T 12190-2006和GB/T 30142-2013规定的测试距离进行的屏蔽效能测试，结果显示在1 GHz以下频率范围内，两种测试方法的屏蔽效能平均差值可达8.4 dB；而在1 GHz以上频率范围内，差值约为5 dB。这表明在低频段，测试距离对屏蔽效能的影响更为显著。因此，在进行屏蔽效能测试时，选择合适的测试距离对于获得准确可靠的测试结果至关重要。

5.3 校准参考方式对结果的影响

校准参考方式的不同也会影响屏蔽效能的测试结果。在校准过程中，自由空间校准和窗口校准是两种常用的校准方法。自由空间校准假设电磁波在自由空间中传播，而窗口校准则考虑了屏蔽室窗口对电磁波的屏蔽效果。在实际测试中，发现在

300 MHz以下频率范围内，采用自由空间校准的测试结果比采用窗口校准的测试结果平均高出约6 dB；而在300 MHz以上频率范围内，两种校准方法的测试结果趋于一致。这说明在低频段，校准参考方式对测试结果的影响较大，而在高频段，这种影响则相对较小。因此，选择合适的校准参考方式对于确保测试结果的准确性和一致性具有重要意义。

6. 屏蔽效能测试应用

6.1 材料屏蔽效能测试

材料屏蔽效能测试是评估电磁屏蔽材料性能的关键技术，广泛应用于军事、航空、电子等领域。

测试标准：遵循GB/T 30142-2013、GJB 6190-2008等标准，确保测试结果的准确性和可重复性。

测试频率：覆盖从低频到高频的广泛频段，满足不同材料的测试需求。

测试方法：包括屏蔽室窗口测试法、小屏蔽体窗口测试法、法兰同轴装置测试法等，根据不同材料特性选择合适的测试方法。

应用实例：在军事领域，材料屏蔽效能测试用于评估军用电子仪器方舱的屏蔽性能，保障信息安全和仪器可靠性。

6.2 装备屏蔽效能测试

装备屏蔽效能测试关注于整体装备的电磁兼容性和屏蔽性能，是装备研发和验收的重要环节。

测试目的：确保装备在复杂电磁环境中的正常运行，防止电磁干扰对装备性能的影响。

测试内容：包括电磁干扰的发射和敏感度测试，以及装备整体的屏蔽效能评估。

测试标准：依据GJB 6785-2009、GJB 8820-2015等标准，对军用电子仪器方舱等装备进行屏蔽效能测试。

测试技术：采用先进的测试仪器和方法，如混响室法、模式搅拌室法等，提高测试效率和准确性。

6.3 系统整机屏蔽效能测试

系统整机屏蔽效能测试是对整个系统或仪器进行的屏蔽效能评估，以确保其在实际应用中的电磁兼容性。

测试对象：包括计算机系统、通信系统、医疗仪器等，测试其在不同工作状态下的屏蔽效能。

测试方法：结合屏蔽室测试和现场测试，评估系统在实际运行环境中的电磁屏蔽性能。

测试挑战：需要考虑系统的复杂性和多样性，以及测试过程中的不确定性因素，如环境电磁干扰等。

测试意义：对于提高系统的可靠性、安全性和稳定性具有重要作用，尤其在高风险和关键领域。

7. 总结

7.1 屏蔽效能测试影响因素分析

测试环境的电磁干扰、屏蔽室的谐振频率等因素都可能影响测试结果的准确性。测试仪器的性能、参数设置的合理性也是影响测试结果的重要因素。分析测试结果在屏蔽材料选择、屏蔽结构设计等方面的应用，以及对提高电磁兼容性的指导意义。

7.2新型测试仪器与技术

随着技术的发展，新型测试仪器如高频率测试系统、自动化测试装置等被开发出来，提高了测试效率和精度。

7.3测试方法的优化与改进

高频电磁波的屏蔽效能测试、复杂结构的屏蔽效能评估测试中仍存在技术挑战，研究者通过仿真分析和实验研究，不断优化测试方法，如改进天线布局、提高测试系统的动态范围等，以适应不同频率和复杂环境下的测试需求。

参考文献：

[1] 张亮.电磁兼容（EMC）技术及应用实例详解[M].电子工业出版社.
[2] GJB5185-2003小屏蔽体屏蔽效能测量方法

[3]蒋全兴. GJB 72A-2002. 电磁干扰和电磁兼容性术语[S]. 北京: 总装备部军标出版发行部, 2002.

[4]刘顺华, 刘军民, 董星龙. 电磁波屏蔽及吸波材料[M]. 北京: 化学工业出版社, 2006: 67-71.

[5]蔡青. GB/T 26667-2011. 电磁屏蔽材料术语[S]. 北京: 中国标准出版社, 2011.

[6]桑昱. GB/T 30142-2013. 平面型电磁屏蔽材料屏蔽效能测量方法[S]. 北京: 中国标准出版社, 2013.

[7]胡玉生. 远场区同轴传输线测试法的原理与进展[J]. 测试与测量, 2006, 12(1): 43-46.

[8]陈世钢. GB12190-1990. 高性能屏蔽室屏蔽效能的测量方法[S]. 北京: 中国标准出版社, 2006.

[9]马正平. 基于空间场部件屏蔽效能测试影响因素的研究[D]: [硕士学位论文]. 西安: 西安电子科技大学, 2011.

[10]Rigol Technologies, Inc. RIGOL屏蔽效能测试方案[EB/OL].

http://www.doc88.com/p-9982382135561.html, 2016-11-09.

[11]周希朗. 电磁场理论与微波技术基础[M]. 第2版. 南京: 东南大学出版社, 2010: 243-244.

[12]吴彦鸿 王聪, 徐灿. 无线通信系统中电波传播路径损耗模型研究[J]. 理论与方法, 2009, 28(8): 35-37.

[13]陈引俐. 电磁屏蔽室的特性研究及分析[J]. 电子工业标准化通讯, 1989(6): 27-31.