简介：摘要：大地网防雷安全参数测试专项技术的研发，可以有效提高防雷的安全效果，同时更加符合在许多大型的电厂工频干扰环境之下，采集出准确的参数信息。所以针对这项技术进行全面的分析，了解其推广的必要条件、具体趋势、效益前景等等，都是未来防雷专项服务可持续发展的关键。本文就将从大地网防雷安全参数测试木工开展的目的、意义、必要条件、具体参数、发展趋势、前景效益等多个方面入手，希望能够切实为相关工作人员的工作开展提供必要的参考和帮助。

简介：摘要随着我国科学技术与经济的不断发展与推进，对电力资源需要日益增加。大型地网的运行状态直接关系着人们的生命财产安全。尤其超大型接地网的出现与运用当前经济发展与社会发展中有着重要的推动力，同时人们对接地的要求越来越高。文章简单阐述了大型地网安全参数测试的意义，并从研究和技术角度出发，就大地网防雷安全参数测试专项技术服务的应用推广进行深入分析，保证采集数据的准确性，进一步推动防雷专项技术服务的可持续发展。

简介：TN2522002042748有效折射率法的研究=Studyofeffectiveindexmethod[刊,中]/孙飞,刘润民,李国正(西安交通大学电子工程系.陕西,西安(710049))∥半导体光电.—2001,22(1).—34-37分析了有效折射率法及其计算偏差的产生原因,

简介：TN2522002010399测量NLO聚合物薄膜光波导传输损耗的方法=Meth-odsformeasuringtransmissionlossofNLOpoly-merthinfilms【刊,中]/吕增海,任诠,马常宝(山东大学光学系晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100))∥光电子·激光.—2001,12(1).—101-104

简介：TN2495063683超短脉冲激光的脉宽测量=Measurementoftheultrashortlaserpulsewidth[刊,中]/文国庆,张树葵,周丕璋,陈骥,邬玉婷(西南核物理与化学研究

简介：TN2596042537Brillouin光纤应变传感中的参数理论计算=TheoreticalcalculationoftheparametersinBrillouinfibrestrainsensing[刊,中]/黄民双,陈伟民,黄尚廉(重庆大学光电技术及系统开放实验室.四川,重庆(630044)),王新强(重庆大学物理系.四川,重庆)∥光通信技术.—1996,20(1).—39—44,53

简介：O484.599042623用喇曼散射光谱估算纳米Ge晶粒平均尺寸=Estimationofcrystal—sizeofnano—GebyRamanscatteringspectra[刊,中]/王印月,郑树凯,杨映虎,郭永平（兰州大学物理系.甘肃,兰州（730000））,奇莉,甘润今（北京机械工业学院基础部.北京（100085））//光学学报.—1998,18（9）.—1265—1268用射频共溅射技术和真空退火方法制备了埋入SiO2基底中的纳米Ge复合膜(nc—Ge/SiO2。测量了不同温度退火后该复合膜的喇曼散射光谱,其结果与晶体Ge的喇曼谱相比,纳米Ge的喇曼峰位红移峰形变宽;用喇曼谱的参数计算了纳米Ge晶粒的平均尺寸。所得

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简介：O484.52003053772厚度具有线性变化的吸收平板或膜层的非相干透射率和反射率=Incoherenttransmissivityandreflectivityofanabsorbingplaneplateorlayerwithlinearvariationsinthickness[刊,中]/钟迪生(辽宁大学物理系.辽宁,沈阳(110036))//应用光学.-2002,23(1).-40-43计算了垂直入射下厚度具有线性变化的吸收平板样品的非相干透射率和反射率(正面和反面),给出了直接确定无基底样品以及透明基底上薄膜能量(强度)系数的精确表达式。图3参3(郑锦玉)

简介：O484.52000031969TiO2薄膜厚度及其光学常数的测量=DeterminationofthicknessandopticalconstantsofTiO2film[刊,中]/王德育,袁春伟（东南大学分子与生物分子电子学实验室.江苏,南京（210096））//东南大学学报.—1999,29（5）.—105-108描述了非线性回归模型在TiO2薄膜的光学常数及其厚度测量中的应用。利用薄膜在可见光范围内的光谱

简介：O484.52001053428光谱法求解极化聚合物薄膜的光电系数=Calcldationofelectro-coefficientsofpoledpolymerfilmsusingspectralmethod[刊,中]/孟凡青,马常宝,张光辉,吕孟凯,袁多荣,房昌水,许东(山东大学晶体材料国家重点实验室.山东,济南(250100)),任诠(山东大学光电子信息与工程系。山东,济南(250100))//半导体光电.—2000,21(6).—402-404,409

简介：O484.5//TN304.0552002042890常规与纳米金刚石薄膜介电性能的比较=Comparisonofdielectricpropertiesbetweenconventionalandnanocrystallinediamondfilms[刊,中]/奚正蕾,莘海维,张志明,凌行,沈荷生,戴永兵,万永中,陆鸣(上海交通大学微电子技术研究所.上海(200030))∥微细加工技术.—2001,(4).—50-55

简介：O484.52003021238硅(001)衬底上生长的ZnO薄膜的AFM研究=AFMstudyofZnOthinfilmsonSi(001)substrates[刊,中]/章建隽(浙江大学信息科学与电子工程系.浙江,杭州(310028)),杨爱龄//电子显微学报.—2002,21(1).—39-42对采用电子束反应蒸镀方法低温下在硅(001)衬底上外延生长的ZnO薄膜的表面构像进行了原子力显微镜(AFM)观察,分析研究了不同的衬底温度对薄膜表面形貌及结构特性的影响。在250℃衬底温度下获得的ZnO

简介：摘要防雷器是防雷避雷必不可少的设施，其性能决定防雷避雷的效果。分析研究防雷器的参数与性能，合理设计应用防雷器，是确保防雷避雷效果的关键。了解防雷器的参数与性能，才可以分析研究应用防雷器，做好和完善防雷措施，保证防雷安全。

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简介：TN252005021226光纤光栅在传感应用中波长漂移的检测方案=Detectionmethodsofwavelengthshiftinopticalfibergratingssens-ingapplication[刊,中]／王小凤(西安石油大学光纤传感实验室.陕西,西安(710065)),乔学光…//光电子技术与信息.-2004,17(5)．-49-53波长漂移量的检测是实现光纤光栅传感网络的关键技术。分类阐述了近几年来光纤光栅传感应用中主要的

简介：TB8896042600底片缺陷分析及鉴别仪器=Analysisofphotographicfilmdefectsanditsdiscriminators[刊,中]/周宏(国家照相机质量监督检验中心)∥照相机.—1995,(10).—23—25对各种一般的及特殊的情况提出底片的缺陷,并简要分析底片缺陷产生的原因,用表格形式将各种缺陷归类,并确定它属于何种类型的缺陷,以便查阅。由于肉眼直接观察来分析底片缺陷已不能满足摄影及

简介：TN252005010358光纤端面衍射场光束参数及其测量=Beamparametersindiffractedfieldoffiberendfaceandthemeasurement[刊,中]／林斌(浙江大学光电系,现代光学仪器国家重点实验室,国家光学仪器工程技术研究中心．浙江,杭州(310027)),王科…∥光子学报．-2004,33(3).-294-298基于非傍轴标量光束的传播理论和横截面上光强的

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简介：摘要：针对试飞测试数据量大、数据类型多、判据复杂等特点，本文设计了一种基于特征曲线的试飞测试参数自动判别方法，建立参数的判读规则，按试验点构建参数特征趋势，通过改进的灰色关联分析方法计算关联度，判别参数的变化趋势是否异常。与传统的人工判读方法相比，该方法能有效提高测试数据判读的效率和准确性，并通过仿真实验验证了该方法的可用性。