简介:根据802.11ac的技术规范,对802.11ac标准与前一代WLAN标准802.11n的主要技术指标进行了对比分析,介绍了802.11ac的主要技术提升和技术特点,研究了相关的测试项目与测试方法,对全面开展802.11ac产品测试有参考价值。
简介:软件测试是保证软件质量的重要手段。航空软件因特殊环境使用要求需具有高安全性和高可靠性。由于多数航空软件为嵌入式软件,故难以测试。目前,国内外航空软件测试管理思路和技术方法各异。从规范标准、测试定义、团队分工、测试类型、测试环境、测试工作产品和资源配置等方面,对国内外航空软件测试进行了论述和比较,以期达到更好的软件测试。
简介:随着航空航天事业的发展,器件的抗辐照性能变得越来越重要,因此对抗辐照指标的应用测试已显得至关重要。基于FPGA和NI工控机,设计四通道数据采集测试系统,用于监测FIFOSRAM单粒子实验中发生的单粒子翻转(SEU)和单粒子闩锁(SEL)效应。采样率可达50MHz,对器件的读写频率达10MByte/s。该系统可实现对FIFOSRAM单粒子试验过程的远程测控。在监测单粒子翻转的过程中,既监测存储器的SEU效应,又监测了读写指针的SEU效应,并经过实际的单粒子效应测试验证了本系统的可靠性。
简介:随着经济发展和科学技术的进步,集成电路(IntegratedCircuit)产业保持着持续、快速的发展。作为集成电路产业链中的一个重要环节,集成电路测试在评价集成电路电性能、质量和可靠性等方面提供了有力的技术支撑,其中集成电路高压测试是进行电源管理、高压驱动等一系列芯片耐压单元性能检测的重要环节。主要研究集成电路成品高压测试过程中存在的一些问题以及相应的解决方案。
简介:对智能终端自动测试系统进行了描述,对智能终端自动测试系统架构进行了阐述,介绍了对智能终端自动测试系统相关应用案例,并对智能终端自动测试优点进行了分析.
简介:分析了目前电子装备测试环境建设对体系结构框架的需求,提出了基于能力的电子装备测试环境体系结构框架,并对体系结构建模过程进行了流程设计,为后续体系结构视图产品设计提供了依据以及电子装备测试环境建设体系结构设计遵循的方法,从而解决了电子装备测试环境结构设计和多视图描述框架等技术问题。
简介:半导体存储器一般由存储体、地址译码驱动器、读/写放大器和控制电路组成,是一种能存储大量信息的器件,它是由许多存储单元组成的。半导体存储器的测试有功能测试、直流参数测试、交流参数测试,而功能测试和交流参数测试对存储器来说是至关重要的。SRAM(静态随机存储器)的功能测试是通过算法图形发生器产生不同的测试图形,对被测器件各个不同存储单位进行读写操作,以检查其功能。主要讲述了SRAM交流参数测试原理及其测试关键技术,介绍了SRAM交流参数测试的故障模型。通过研究SRAM交流参数测试图形向量,给出了SRAM交流参数测试图形向量的优化方法。
简介:通过对不同尺寸的方柱形和圆柱形美化罩进行测试分析,探讨美化罩尺寸和形状对TD-LTE天线的性能影响,同时调整美化罩与天线的相对位置,研究美化罩的安装方式对TD-LTE天线的性能影响.
简介:LDO类IC(低压差线性稳压器)作为新一代集成电路稳压器,以其低噪声、高电源抑制比、低成本、高效率等特性,目前正广泛应用于各种供电系统中。输出电压(基准值)作为低压差线性稳压器最重要的参数是测试过程中最为重要也是最为关注的一项。在CP测试时,一旦输出电压因各种原因出现了偏差,将造成难以挽回的后果。探讨了提高LDO类IC基准值测试精度的一些方法。
简介:随着高速ADC器件的不断出现,传统的低速ADC器件测试评价方法已经越来越不适用。为从工程上实现高速ADC器件的测试评价,提供了一种高速ADC器件关键参数评价INL、DNL的新方法,详细分析了新算法的原理和正确性。目前这些算法已经大量应用到实际高速ADC器件的测试评价中去,解决了高速ADC器件难以评价的问题。
简介:本文针对短波监测车主要测向性能指标的测试方法进行了详细阐述和总结,可作为短波监测车验收、维护、校准的技术参考。
简介:论述了用于雷达天线测试的精密三轴测试转台控制系统的设计原理及关键技术,转台传动链齿隙、处理器运算速度和精度、控制算法、控制参数及控制器运算性能等因素是影响测试转台动态性能和指向精度的重要因素,为了提高控制系统动态性能和稳态指向精度,给出了基于浮点DSP和智能PI控制算法的双电机驱动数字控制系统设计方案,并对系统轴系精度进行了分析和误差补偿算法处理。经使用验证,该控制系统运行稳定、可靠、定位精度高,满足设计要求。
简介:AD590是一个带双终端的集成电路温度传感器,它产生一个与绝对温度成比例的输出电流。自身所特有优良的性能特点,主要表现在:测量范围宽,工作电压在4~30V时都能获得稳定的输出信号,其线性电流输出为1μA/K;AD590以热力学温标零点作为零输出点,在25℃时的输出电流为298.2μA;因为对芯片进行了激光微调修正,AD590具有良好的互换性,且校准精度可达±0.5℃;使用时接口简单,输出阻抗高达10MΩ以上。
简介:北京博达微科技有限公司(PDA)日前宣布出展中国天津第22届IC设计年会(ICCAD),展台号为#B73,并展出最新推出的新一代噪声特性测量仪器NC300,NC300基于优秀的架构设计,系统集成化高,不依赖任何其他仪器,安装便捷,即插即用,多类型器件支持:MOSFET、MOSSOI、BJT、Diode、Resistor,以及SRAMCell等客户定制电路。
简介:一种基于光纤Mach森德干涉的新型磁场传感器(MZI)的涂磁流体(MF)提出。MZI组成标准单模光纤(SMF)两个球形结构。的干涉波长和功率的传感结构是敏感的外部的折射率(国际扶轮)。由于RI的MF对磁场敏感,磁场的测量可以通过检测干涉谱的变化来实现。实验结果表明,随着磁场强度的增加,干涉倾角的波长和功率都随着磁场强度的增加而增大。
简介:泰克公司日前为用于DSA8300数字串行分析仪采样示波器的80C15光采样模块推出一个全新的高灵敏度时钟恢复触发捡拾(CRTP)选项。这一配置是第一个、也是唯一拥有足够高的信号灵敏度的测试解决方案,能够测试光器件,执行最新批准的100GBASE-SR4(IEEE802.3bm)规范要求的时钟恢复。
简介:日前,中国电信携手华为联合趋势科技、Intel、惠普,共同在ETSINFV(网络功能虚拟化)标准工作组框架下开展"高可用性虚拟EPC和SDN控制的业务链演示"PoC(概念验证)项目,对虚拟EPC的可靠性以及基于SDN(软件定义网络)的智能业务链进行验证。
简介:通过分析对比碘酸钾氧化还原滴定和原子吸收法对退锡废水中锡含量测试效果,为线路板退锡废水测试监控提供简单、准确,可靠的分析方法。
802.11ac技术的测试方法研究
国内外航空软件测试比较
FIFO SRAM单粒子效应的测试系统设计
集成电路FT制程高压测试方法研究
智能终端自动测试网络优化方法的研究
基于能力的电子装备测试环境体系结构框架
SRAM存储器动态参数测试向量分析
美化罩对TD-LTE天线的性能影响测试分析
LDO类IC基准项测试及熔丝修调方法探讨
一种用于高速ADC INL/DNL测试的新方法
浅谈短波监测车测向性能指标的测试方法
基于DSP28335精密三轴测试转台控制系统设计
AD590温度传感器测试方法的研究及应用
博达微科技推出低频噪声测试及仿真系统NC300
一种基于光纤球结构干涉仪的光纤磁场传感器
泰克为100GBASE-SR4推出光测试解决方案
中国电信携手华为等设备商开展ETSI NFV PoC联合测试
碘酸钾氧化还原滴定法和原子吸收法对退锡废水中锡含量的测试与应用