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  • 简介:软X射线干涉测量是通过软X射线激光经过马赫-詹德干涉仪完成,是测量驱动激光临界面附近等离子体状态重要方法。本文基于软X射线多层膜性能特点,指出软X射线干涉测量干涉仪各光学元件入射角越接近正入射越好,分束设计应以其反射率和透过率乘积为衡量标准。用离子束溅射法制作了类镍银13.9nm软X射线激光干涉测量所需分束,实测表明其面形精度达到纳米量级,反射率和透过率乘积大于1.6%。

  • 标签: 软X射线干涉测量 分束镜 激光 多层膜 等离子体 入射角
  • 简介:同步辐射软X射线(白光)对InP表现进行了辐照。并对样品表面电子结构作了UPS和XPS分析。结果显示,样品表面电子态变化明显,P3a峰化学位移大于In4d峰。与In非键合P2p峰面积辐照后显著增加。说明软X射线对InP表现F原子电离损伤要大于In原子。

  • 标签: 软X射线 INP 表面微结构 磷化铟 半导体 电离损伤
  • 简介:采用Czochralski法,我们成功地生长了大尺寸GdCa4O(BO3)3单晶。在对晶体完整性进行检测过程中发现:晶体中存在亚晶界,该晶界贯穿整个大单晶。由于亚晶界两边单体存在取向差,同步辐射形貌像中可观察到像漂移。根据高分辨X射线衍射所确定取向差,我们计算了对应几个典型衍射形貌像漂移,计算结果与从形貌像中测量结果符合得很好。

  • 标签: GdCa4O(BO3)3晶体 小角晶界 同步辐射 形貌 像漂移 非线性光学晶体
  • 简介:用延展X光吸收精细结构光谱(EXAFS)研究了重金属Zn(Ⅱ)水锰矿(Y-MnOOH)上吸附产物微观结构及其吸附机制。结果表明,Zn(Ⅱ)-水锰矿体系中(pH7.5,0.1MNaNO3介质,25℃),Zn(Ⅱ)离子主要是通过Zn-O键结合到水锰矿固体表面上,平均Zn-O原子间距为1.9984-0.010A(n=3)。同时,第二配位层(Zn-Mn相互作用)EXAFS图谱解新证明存在两个典型Zn-Mn原子间距,即R1=3.08±0.024A(n=3)和R2=3.54±0.018A(n=3)。这两个Zn-Mn原子距分别对应于水锰矿结构单元MnO6八面体与Zn水合离子ZnO多面体结合两种方式,即边-边结合与角-角结合。边-边结合是较强吸附位,Zn-Mn原子距较短(Rl=3.08A),吸附较不可逆。角-角结合是较弱吸附位,Zn-Mn原子距较长(R2=3.54A),吸附较为可逆。宏观吸附一解吸热力学实验表明Zn(Ⅱ)水锰矿上吸附是不可逆,EXAFS结果指出这种不可逆性主要是由Zn水合离子中Zn0多面体与水锰矿结构单元MnO6八面体之间边-边结合所导致

  • 标签: EXAFS ZN 水锰矿 吸附-解吸机制 光谱 同步辐射技术
  • 简介:小角X射线散射(SAXS)是一种有效、重要亚微结构分析手段。本文介绍了SAXS基本原理、实验方法和数据处理方法尤其是对于非理想两相体系解析方法及其溶胶-凝胶法制备多孔材料研究中应用。

  • 标签: SAXS 溶胶-凝胶法 多孔材料 孔结构隙 小角X射线散射
  • 简介:用同步辐射角分辨紫外光电子谱对CO与CsRu(1010)面上共吸附研究结果表明:由于Cs强烈影响,CO分子轨道重新排列。对应清洁表面上CO分子(5σ+1π)轨道7.5eV谱峰分裂成两个,分别处于6.3和7.8eV,6.3eV谱峰关于一个垂直于Ru(1010)面面平行于<0001>晶向镜像面反对称性。

  • 标签: ARUPS Cs/Ru(1010) CO 分子轨道 对称性 一氧化碳
  • 简介:本文测定了高压条件两种金属(钙和锌)8-羟基喹啉络合物晶体粉末样品发光行为和原位x-光衍射光说。结果表明,压力对其发光性质产生极大影响。随着压力增加,8-羟基喹啉钙发光强度3GPa以内时大大增加。随后发光强度快速下降,到7GPa左右时几乎为零。而8-羟基喹啉锌发光随压力增加而逐渐降低,到7GPa左右时常压10%。高压下原位x-光衍射结果表明8-羟基喹啉钙晶体3-4GPa开始发生非晶化相变,7GPa时该非晶化相变完成,样品x-光衍射完全消失。而8-羟基喹啉锌压力作用(至16GPa)没有发生明显相变。

  • 标签: 高压条件 金属8-羟喹啉络合物 发光行为 晶体结构
  • 简介:本文介绍了同步辐射光源特点,以及应用于X射线形貌术时带来各种好处。并通过介绍北京同步辐射装置上所做若干实验成果,扼要叙述了同步辐射X射线形貌术晶体缺陷研究和晶体生长中应用。

  • 标签: 同步辐射 X射线形貌术 晶体缺陷 晶体生长
  • 简介:同步辐射软X光能区(50-2000eV)进行了硅光电二极管自标定实验,因为消除了二极管“死区”并采用很薄层SiO2作窗,使得可以用简单模型来分析实验结果,由实验测得光电流,计算出硅光电二极管量子效率,并求得入射同步辐射光通量。

  • 标签: 同步辐射 硅光电二极管 自标定 量子效率 工作原理 气通量
  • 简介:X射线低角反射实验技术是测定固体材料表层中杂质原子深度分布有效手段。利用同步辐射X射线反射技术和近年来发展由反射实验数据逆向求解原子深度分布分层逼近法,研究了不同温度分子束外延生长δ掺杂(Sb)Si晶体样品,成功地测量了样品中几个纳米范围内Sb原子深度分布,所得结果表明,300℃以下是用分子束外延方法Si晶体中生长Sb原子δ掺杂结构合适温度。

  • 标签: Δ掺杂 表层深度分布 锑原子 X射线反射 同步辐射 分层副近法
  • 简介:本文报道了纳米Gd2O3:(Ce^3+,Eu^3+)紫外以及真空紫外(UV-VUV)选择激发下荧光光谱。这些光谱实验表明,Gd2O3:(Ce^3+,Eu^3+)中Ce^3-占据两种不同格位。除了Gd2O3基质与Ce^3+,Eu^3+离子之间能量传递外,还存在着较弱Ce^3+与Eu^3+间能量传递。

  • 标签: VU VUV 选择激发 荧光光谱