简介：O482.3199053393Ga1-xAl-xAs外延片有源区Al组份的测定方法=MeasurablemethodofaluminiumcompositeofGa1-xAlxAsepitaxialmaterialwithinactiveregion[刊,中]/刘学彦（中科院长春物理所.吉林,长春（130021））//发光学报.—1998,19（4）.—361—363利用电致发光测得Ga1-xAlxAs外延片有源区发射光谱,并通过公式计算得出有源区Al组份值。图4表1参3（常唯）O72299053394半绝缘GaAs单晶化学配比的X射线双晶衍射Bond方法测量=BondmethodmeasurementofstoichiometryinSi—GaAsbulkmaterialbydouble

简介：O722002032276X射线驻波方法研究半导体超薄异质外延层=StudyofsemiconductorsuperthinheterostructureswithsynchrotronradiationX-raystandingwavetech-nique[刊,中]/姜晓明,贾全杰,胡天斗,黄宇营,郑文莉,何伟,冼鼎昌(中科院高能物理所.北京(100039)),施斌,蒋最敏,王迅(复旦大学应用表面物理国家重点实验室.上海(200433))//高能物理与核物理.-2001,25(6).-588-594利用双晶单色器和精密二圆衍射仪,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术,并用这一实验技术结合X射线衍射方法,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构。图5参9(李瑞琴)

简介：高功率固体激光装置对KDP晶体光学元件的基本要求是大口径、高精度面形质量、高激光损伤阈值、良好的表面粗糙度。但是KDP晶体本身具有质软、易潮解、脆性高、对温度变化敏感、易开裂等一系列不利于光学加工的特点，传统的研磨抛光法不适于加工高精度的大口径KDP元件。国外加工此类元件已广泛采用先进的单点金刚石车削技术（简称SPDT）。采用SPDT技术加工KDP晶体元件，主要存在3个方面的加工误差，即晶体的面形误差、表面粗糙度（包括表面疵病）以及小尺度波纹等。

简介：O72398010608Hg1-xCdxTe晶体密度和组分的关系=StudyoftherelationshipbetweenHg1-xCdxTecrystaldensityandingredient[刊,中]/蔡毅（昆明物理研究所.云南,昆明（650223））//红外与激光工程.—1997,26（3）.—23—26根据Hg1-xCd—xTe晶体结构、组分和点阵常数的关系,导出Hg1-xCdxTe晶体密度和组分的关系式。讨论了温度对晶体密度的影响,与参考文献中的密度公式进行了比较。图2表1参10（严兰）

简介：O73196021325Bi2Sr2CuOy单晶正常态的电子输运=NormalstatetransportpropertiesofBi2Sr2CuOycrystals[刊,中]/王楠林,潘国强,邓明,种燕,阮可青（中国科技大学物理系。安徽,合肥（230026））∥物理学报。一1995,44（1）。—128—132测量了不同Bi2Sr2CuOy单晶样品ab平面内电阻

简介：运用Zemax光学设计软件构建Liou-Brennan眼模型，设计了增大焦深的非球面、折射型多焦点和衍射型多焦点人工晶体，并用点列图和视锐度分析了所设计的人工晶体的光学质量。对于非球面人工晶体，在3mm瞳孔下，当人眼无球差时，最佳视锐度相当高，但焦深仅为1．4m^-1；当人眼球差为0．4λ时，最佳视锐度可达0．9，焦深达2．2m，同时在整个焦深范围内视觉质量均优越。对于衍射型和折射型多焦点人工晶体，在明视条件下，虽然视远和视近时视觉质量良好，但是中间距离的视锐度〈0．5。衍射型多焦点人工晶体只有81％的光能用于成像，远近焦点能量均分，且与瞳孔大小无关；折射型多焦点人工晶体的远近焦点能量与瞳孔大小相关。设计的人工晶体均能增大人眼的焦深，但各有优缺点，临床上应该酌情选用。

简介：用有限时域差分方法（FDTD）对比研究了下列二维光子晶体的带隙：第1组,半径r=0.2μm圆柱,折射率n=4,晶格常数a=0.4μm;第2组,半径为r=0.2μm圆柱,折射率n=4,晶格常数a=0.6μm;第3组,内半径r1=0.1μm,外半径r2=0.2μm,折射率n=4,晶格常数a=0.4μm;第4组,内半径r1=0.1μm,外半径r2=0.2μm,折射率n=4,晶格常数a=0.6μm,并且对每一组光子晶体进行挖孔操作,然后比较不同填充率对光子晶体材料的带隙的影响,以及同种材料和结构、挖孔对带隙的影响。对于紧密排列的二维光子晶体,挖孔会使带隙向长波方向移动;对于填充率小的光子晶体,或者环形柱二维光子晶体,中间挖孔不影响带隙的范围。

简介：闪烁体是探测系统中的核心功能材料,对系统能力的提高起着至关重要的作用,然而在应用中由于全内反射作用,导致大量闪烁光子被限制在晶体内部,无法出射,阻碍了探测效率的进一步提升.光子晶体是一种典型的微纳结构材料,可以实现对闪烁发光的调控,提高闪烁体的光输出效率,控制发光的方向性.介绍了近年来国内外有关光子晶体闪烁体的研究进展,主要包括光子晶体调控闪烁发光的基本原理、光子晶体闪烁体的制备技术、光子晶体闪烁体提高探测系统能量分辨率和时间分辨率的方法.

简介：晶体颗粒的品质与晶体颗粒的力学性能如颗粒凝聚强度有密切联系，颗粒的凝聚强度（Coherencestrength，cs）是晶体内部结合力的宏观度量，是分子间作用力强弱、晶格缺陷、晶间物理微结构等影响因素的统计平均，晶体颗粒破碎时需要的应力越高，则凝聚强度越大。含能晶体颗粒的品质对其感度有重要影响。从力学性能角度出发提出压缩刚度法，通过评价晶体颗粒凝聚强度来定量评价RDX晶体品质。

简介：对CALYPSO预测方法的原理和核心技术进行了详细的介绍,并应用该方法分别研究了单质锂晶体和硼原子团簇结构的有关粒子空间分布构造问题,从而对CALYPSO方法有了更深入的了解和认识。

简介：应用Onshell方法研究带缺陷的二维光子晶体,缺陷的引入使得原来不透电磁波的禁带中,出现了缺陷模,即某一频率的电磁波可以透过,计算表明缺陷模的频率与透过率随着缺陷的性质及缺陷两边的层数而改变

简介：微波布拉格衍射实验中点阵模拟晶体是一种常用模型，对此的研究已趋于成熟，也形成了比较完善的理论体系。本文在研究了用点阵模拟晶体发生微波布拉格衍射的基础上，结合布拉格衍射实验原理，设计一种线阵模拟晶体来替代点阵模拟晶体。利用微波分光仪进行了不同线阵面间距和不同微波频率入射的布拉格衍射实验，并将实验结果与微波布拉格衍射理论计算结果进行了分析比较和符合性的验证。

简介：通过研究BaF2晶体经中子辐照后的荧光发射谱,对它们的变化规律进行了解释。探讨了BaF2晶体经中子辐照后出现的现象和机理。

简介：在实验研究的基础上，对晶体管二次击穿现象的原因提出一种新的观点，并进而讨论避免二次击穿的思路。

简介：近年来，高功率宽带激光3次谐波转换技术倍受关注，其中晶体串接方案比较诱人，它无需对传统光路做大的改动，只需在原3次谐波转换系统后再串接一块KDP晶体即可实现。

简介：Lyot型滤光器由多个基本单元构成，每个基本单元由两个透偏方向平行的检偏器及夹在两个检偏器中间的单轴晶体组成。受晶体厚度加工误差、环境温度变化等的影响，Lyot型滤光器的峰值透射波长会发生漂移。当带宽较窄时，峰值波长相对于信号光波长的漂移会引起信号光透过率的严重下降，这对实际工程应用极为不利。因此，客观上需要对双折射窄带滤光器的中心波长进行精确地调节。

简介：对Fe∶ZnSe晶体的吸收光谱进行了实验测量和理论计算。通过测量Fe∶ZnSe晶体的透射光谱,给出了Fe∶ZnSe晶体的整体损耗曲线;受限于分光光度计的反射光谱测量范围,无法对该晶体在3μm附近的反射光谱进行直接测量。因此,基于几何光学理论,对晶体的反射光谱进行了理论计算。经对比,计算得到的反射光谱曲线与分光光度计可测区间的反射光谱吻合较好。这样,通过理论计算与实验测量相结合的方法,得到了可信的晶体反射光谱数据。在考虑晶体反射损耗的情况下,计算得到了晶体的吸收光谱曲线,并在此基础上计算了晶体的掺杂浓度,结果与标称掺杂浓度相符。

简介：本文介绍一个实用的晶体管开关电路（如图１），用它能够很准确地测定出电容和介电常数。

简介：为了测量高能激光参数，基于石英晶体微天平测量高能激光功率或者能量的思路，搭建了石英晶体微天平测量系统，分别针对短时间（25ms到2$)激光辐照和长时间（20$以上）激光辐照以及石英晶体谐振器耐辐照能力开展了实验研究，并对实验结果进行了初步分析。实验结果表明，石英晶体谐振器受激光辐照时，谐振频率首先线性增加，然后趋于稳定。频率增加过程中，频率变化量与入射激光能量成正比；长时间辐照后频率趋于稳定，谐振频率相对于辐照前的变化量与入射激光功率成正比。测量系统最小可分辨的能量在7mJ以下，最小可分辨的功率在80mW以下，耐受激光功率密度不小于2.3kW*cm^，辐照时间不小于60s。分析认为，石英晶体谐振器受激光辐照后，谐振频率发生变化与辐照后晶体内部温度场和应力场的变化有关。

简介：通过列举实例，讨论晶体管放大电路的图解分析法，指出点斜法画直流负载线和交流负载线时应该注意的问题。