简介:应用标量光场光强的传统定义,推导了具有轴对称性的傍轴标量光束的光强二阶矩的传输规律。在此基础上,给出了光束的束腰半径、远场发散角及光束质量因子M2,并证明了光束质量因子M21。应用标量光场光强的精确定义,计算了非傍轴标量高斯光束的质量因子,结果表明:当ω0λ时,光束质量因子M2可以小于1,并随光束的束腰半径趋于零而趋向于零;ω0>λ时,高斯光束的质量因子M2非常接近于1,且随光束束腰半径的增大迅速趋向于1。此外,文章还对一些相关的问题进行了讨论。
简介:历史上发生过这样一件事:17世纪挪威有一个远洋运货商,他用弹簧磅秤称了5000t货物,运到靠近赤道的利伯维尔市去.到达目的地后,他将货物交给对方的订货商,可是,货物经原来的磅秤一一过磅后,发现竞少了将近19t.
简介:
简介:设计了一套实验装置,以此研究了物质惯性质量与引力质量的等价性。与以往伽利略自由落体实验和牛顿单摆实验等动态验证法相比,本实验以静态的方式进行,大大减少了机械摩擦和空气阻力,又通过扭秤的光学系统将微弱作用力放大,因而实验的精度可高达,精确地验证了物质惯性质量与引力质量的等价性,填补了国内相关方面研究的空白。
简介:1.内能的定义由于物体内部大量分子做无规则运动,因此分子具有动能;分子间又有相互作用力,因此分子具有势能.如同“物体和地球相互吸引,有相互作用力,从而物体具有势能”一样.物体内部所有分子做无规则运动的动能和分子势能的总和,叫物体的内能.因为大量分子的无规则运动是永不停息的,所以一切物体都有内能.
简介:用解析法讨论两质点的二维弹性碰撞,得到并验证了当入射质点的质量大于靶质点的质量时,入射质点的散射角存在最大值限制,而当入射质点质量小于靶质点质量时,该限制条件消失;并且当两质点质量相等时,碰撞后两质点运动互相垂直。
简介:充满问题生成和问题解决的课堂,一定是具有丰富思维、展现智慧的课堂.许多教师都明白这个道理,但常常还是担心课堂上出乱子,总希望一帆风顺,于是处处为学生“搭好桥”、“铺好路”,问题简单直接,学生用不着积极思考就可回答,表面上很流畅,其实不利于学生思维能力的培养.当然,如果问题太难,也不能有效启发学生思维,反而会使思维停滞,造成冷场,挫伤学习兴趣.
简介:磁体问题,包含物体磁性有无的判断、磁感线的认识以及磁现象的解释.下面的问题将让你全面的走进磁体问题.
简介:从常用方法和素材来源两方面。阐述发现问题与提出问题的方法和途径。
简介:在一些学生练习时常会出现这样的题目:在装满水的铁水管一端敲击一下,在另一端将会听到几次响声?不少同学往往不注意分类讨论,会得出不准确的答案,现结合题目分析如下.
简介:教学是教师的教与学生的学的统一,新课程把教学过程看成是师生交往,师生互动,共同发展的过程,《课标》中要求学生能从日常生活,自然现象或实验观察中发现与物理学有关的物理问题。现代教学论认为,从本质上讲感知不是学习产生的根本原因,产生学习的根本原因是“问题”。没有问题,也就难以诱发和激起求知欲,没有问题,感觉不到问题的存在,思维不会被激活,学生也就不会去深入思考。所以,我在教学中经常采用“问题教学”。
简介:探讨离地面一定高度时,抛出物取得最大射程时的抛角大小。
简介:本文于2006年9月初次发表在“苏科物理网”(http://www.skwl.org/forum/view.asp?id=6103),当时作者是以问题的形式提出,作者没有放弃对问题的求解,终于找到了解决问题的突破口,这样的探究意识是值得表彰的.我们更希望广大教师在参与“苏科物理网”(http://www.skwl.org)讨论的基础上,撰写出有研究意义的文章.
简介:托盘天平是称量物体质量的重要工具之一.实际称量时,我们应使用准确的天平进行规范的操作,但万一在使用过程中出现了这样或那样的问题,应根据天平的工作原理,巧妙应对,同样可以迅速得出被测物体的实际质量.
简介:本文研究物质的宏观质量量子性及其量子规律,提出理论预言:(1)物质的微观基本结构中存在着基本量子──初始基本粒子;(2)物质存在着时空量子尺度。
简介:天平不等臂通常是由于制造上的误差.致使天平两臂的长度稍有不同.若仍按等臂天平使用方法(单称法)。则会导致测量不准确.那么采用什么方法使用不等臂天平,才能消除或减小测量误差呢?现分析探讨如下.
简介:对于量子物理中测量结果非确定性的现象、基本原理及相关观点进行了讨论与分析
光束质量与光束质量因子
质量与重量
物体的质量
物体的质量Ⅱ
物体的质量I
惯性质量与引力质量相等的实验验证
内能问题辨析
碰撞问题分析
课堂:行走在问题与问题解决之间
有趣的磁体问题
发现问题与提出问题的方法和途径
用天平测物体的质量
也谈“水管敲击”问题
浅谈初中物理“问题教学”
铅球的抛角问题
“分萝卜”问题的讨论
用天平测质量的特殊方法
物质的宏观质量量子性
探讨天平的不等臂问题
量子物理中的测量问题