简介:本文依据多年现场测试经验积累,再结合专用/通用测试机原理等因素,分析总结出PCB测试出现漏测产生的原因,并作出相应的解决方案,以避免PCB板电测试开断路漏测。
简介:近年来,采用各种不同沟槽栅结构使低压MOSFET功率开关的性能迅速提高。本文分上、下两篇综述了这方面的新发展。上篇重点阐述了降低漏源通态电阻RDS(on)?B7矫娴募际醴⒄梗幌缕氐悴隽私档陀胖礔oM方面的技术发展。
论避免开断路漏测
沟槽栅低压功率MOSFET的发展(上)——减小漏源通态电阻R DS(on)