简介:摘 要 本文介绍了冷场发射扫描电子显微镜( SEM)以及 X射线能谱分析仪( EDS)的主要分析原理、分析方法,并简要介绍了 SEM及 EDS在纳米材料表征中的相关应用。
SEM分析技术在纳米材料表征中的应用