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  • 简介:摘 要 本文介绍了冷场发射扫描电子显微镜( SEM)以及 X射线能谱分析仪( EDS)的主要分析原理、分析方法,并简要介绍了 SEM及 EDS在纳米材料表征中的相关应用。

  • 标签: SEM EDS 纳米材料表征