本文使用自制标准样品，采用混合熔剂熔融样品，用X射线荧光光谱法（XRF）测定锶永磁铁氧体半成品中Fe、Sr、Si等元素的含量。熔融制样有效地消除了矿物效应，并降低了基体效应的影响。实验结果表明，本法准确度高，重现性好，平行测定11次相对标准偏差（RSD）可达到0．1％。该方法用于实际样品分析，其结果与传统化学分析方法结果相符。
中国无机分析化学
2011年1期
