电磁继电器的密封绝缘性能与外界条件有较大的关系，当贮存条件或使用环境不当时会加速电磁继电器内部腔体潮气的侵入，对其可靠性产生影响。本文主要通过对贮存过程中出现密封绝缘失效的电磁继电器，采用高加速应力试验研究由密封绝缘性能决定的电磁继电器的贮存寿命，试验结果显示，评估漏率为10^-3Pacm^3／s、平均内腔体积约3cm^3的电磁继电器如能满足15年的贮存寿命，只需通过270h的HAST试验鉴定即可。
失效分析与预防
2006年3期
