为测试受限制的板制定DFT程序-中国期刊网

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（整期优先）网络出版时间：2004-05-15

作者: srigOtesjo BarryOdbert

电子电信 >电路与系统

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本文介绍．对于许多板来说，由于不适当的可测试性设计(DFT．designfortestability)而失去对关键节点的探测可能完全地毁坏缺陷覆盖率。

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DFT 可测试性设计覆盖率探测节点限制

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