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《电子电路与贴装》
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2004年5期
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为测试受限制的板制定DFT程序
为测试受限制的板制定DFT程序
(整期优先)网络出版时间:2004-05-15
作者:
srigOtesjo BarryOdbert
电子电信
>电路与系统
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资料简介
本文介绍.对于许多板来说,由于不适当的可测试性设计(DFT.designfortestability)而失去对关键节点的探测可能完全地毁坏缺陷覆盖率。
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本文介绍.对于许多板来说,由于不适当的可测试性设计(DFT.designfortestability)而失去对关键节点的探测可能完全地毁坏缺陷覆盖率。
来源期刊
电子电路与贴装
2004年5期
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DFT
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