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X射线荧光光谱熔融法测定锶永磁铁氧体中各组分含量

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摘要本文使用自制标准样品，采用混合熔剂熔融样品，用X射线荧光光谱法（XRF）测定锶永磁铁氧体半成品中Fe、Sr、Si等元素的含量。熔融制样有效地消除了矿物效应，并降低了基体效应的影响。实验结果表明，本法准确度高，重现性好，平行测定11次相对标准偏差（RSD）可达到0．1％。该方法用于实际样品分析，其结果与传统化学分析方法结果相符。

DOI lj1oxqq24v/957468

作者朱泽民;杜治国;蒋学良;姚桂菊;陈立清

机构地区不详

出处《中国无机分析化学》 2011年1期

关键词 X射线荧光光谱法永磁铁氧体铁锶硅

分类 [理学][化学]

出版日期 2011年01月11日（中国期刊网平台首次上网日期，不代表论文的发表时间）

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来源期刊

中国无机分析化学

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