简介:TH741.895021336一种带三维坐标测量的新型万能工具显微镜(108J)=Anewtypeuniversaltoolmaker’smicroscopewith3Dcoordinatemeasurement[刊,中]/施召贤(上海光学仪器厂)//现代计量测试.—1994,(6).—9—11提出了一种带三维坐标测量的新一代万能工具显微镜的构想,在结构方面打破了传统万能工具显
简介:摘要在供给电能时,经常会出现线损情况,具体边线为电导与电阻过多地消耗有功功率,如果线损问题没有被及时消除,不仅仅会提升电能供给的成本,同时还会催发一些电力安全事故,电力企业如果想要及时发现并解决线损问题,就必须要适时地进行电力检查工作,严格管控电力系统,切实解决线损过度的问题,选择正确的检查工作方法非常重要,本文针对用电检查工作对降低线损的作用进行了探析,仅供参考。
简介:利用同步辐射X射线形貌术研究晶体缺陷.是近年来发展起来的一种优良的实验方法.本文在研究LNP等晶体缺陷的同时,对这种实验方法进行了系统的探讨,讨论了散射光的消除、焦距的选择、样品的透明度与厚度、曝光的时间、底片的冲洗答问题.以及在缺陷研究中对晶体衍射的劳厄斑点的选取依据.
简介:介绍了在软X-射线显微术研究领域中有重要应用的Si3N4薄膜窗口的实验室制作方法,并形成一套独特制备工艺,Si3N4薄膜窗口的研制成功推动了我国软X射线显微术研究的发展。
简介:刘徽的“割圆术”是中国数学史上的重要成就之一,其中包含着中国数学家对无限问题的独特认识和致用的处理方式.很多高等数学教科书在讲述极限概念时大都提及,但所述,并未体现刘徽本意.刘徽的“割圆术”是为证明圆面积公式而设计出来的一种方法,其融合了庄、墨两家理解和处理无限问题的方法,并且使用了数列极限的“夹逼准则”和不可分量可积的预设.通过这些相关知识的历史考察,试图以HPM的方法来辅助解凄极限概念教学的难题.
眼镜、放大镜、显微镜及显微术
用电检查工作对降低线损的作用探析王术
利用同步辐射形貌术研究晶体缺陷的实验方法探讨
软X射线显微术Si3N4薄膜窗口的研制
数学史与数学教育(HPM)的一个案例——刘徽的“割圆术”与微积分