简介:为了在杂波环境中准确的完成雷达微弱多目标的检测,需要对雷达微弱多目标检测方法进行研究。采用当前检测方法在杂波干扰下对雷达微弱多目标进行检测时,不能有效的去除目标回波信号中存在的噪声信号,得到的目标运动轨迹误差较大,存在信噪比低和检测准确率低的问题。提出一种杂波干扰下雷达微弱多目标检测方法,以地面的辐射源作为雷达发射站,载机作为接收站,建立雷达系统模型,通过雷达系统模型得到目标回波信号模型;通过滤波器去除目标回波信号中存在的噪声信号,得到重构的目标回波信号,通过两级门限检测方法得到微弱目标的状态序列,采用逆序递推法得到目标的运动轨迹,完成杂波干扰下雷达微弱多目标的检测。实验结果表明,所提方法的信噪比高、检测结果准确率高。
简介:当前的电子产品制造及SMT加工企业,主要是采用委托代工(OEM)、委托设计与制造(ODM)或两者兼用的生产经营方式。电子产品的日益纷繁复杂、快速地更新换代和技术指标不断攀高,无论是对于OEM还是ODM产品,SMT新品导入(NPI)都不可等闲视之。
简介:随着集成电路设计规模的不断增大,在系统芯片SoC(SystemonaChip)中嵌入大量的SRAM存储器的设计方法变得越来越重要。文中介绍了SRAM的典型故障类型和几种常用的测试方法,同时详细分析了嵌入式SRAM存储器内建自测试的实现原理以及几种改进的March算法,另外,以16k×32bitSRAM为例,给出了SRAM内建自测试的一种典型实现,并在Altera—EPIS25上实现.
简介:在技术成熟度的评价过程中,现有的TRL(技术成熟度等级)评价方法、TRIZ(发现并解决问题的理论)评价法以及性能预测法均存在有效数据缺乏和评价结果不够精确等不足。采用了基于文献统计的方法,探索技术成熟度的评价方法及实施流程。研究技术指标的构建方法,结合logisticregression(逻辑回归)技术,构建技术发展模型,以保证数据的有效性和拟合结果的准确性。针对二维、三维及系统级多芯片模块3种技术,开展方法的应用研究。研究结果表明,基于文献统计方法的多芯片模块技术的评价结果能合理地解释实际情况下技术的发展程度,验证了文章提出方法的可行性。
简介:角闪烁背景下,雷达导引头在近距离跟踪阶段存在不能稳定跟踪,甚至不能精确跟踪的问题。基于高分辨技术的单脉冲测角方法是抑制角闪烁、提高角跟踪性能的有效途径。现有研究采用幅度加权的思路,在对目标角度的估计过程中只利用了目标多个散射点的幅度信息。对于雷达目标的角度估计和角度跟踪而言,目标几何中心具有确切的物理意义。在距离高分辨条件下,散射点的距离信息表征了目标散射点在径向上的分布情况,对目标几何中心的角度估计更具有实际意义。因此,充分利用高分辨雷达所能提供的有效目标信息,提出了基于目标几何中心的角信息处理方法。仿真结果表明,该方法不仅能有效抑制角闪烁,而且具有更好的跟踪准确性和稳定性。