简介：采用直流X射线连续能谱照射晶体,以极小的步进角,测量一定角度范围内,不同入射角度下的衍射能谱,通过提取各个角度衍射能谱中同一能量X射线的衍射强度,微分得到该能量的平晶摇摆曲线。与传统测量方法相比,该方法具有更大的X射线能量测量范围,可通过一次角度扫描,同时给出多个能量的摇摆曲线。利用该方法开展了16~21keV区间内LiF（200）平晶摇摆曲线的相对强度标定,结果表明,晶体摇摆曲线的半高宽随X射线能量增加而缓慢减小,而峰值强度随X射线能量增加则缓慢增加,在入射能谱强度变化较大区间内,该方法测量结果的不确定度较大。
基于直流X射线连续能谱的平晶摇摆曲线测量方法
