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  • 简介:古陶瓷元素谱分析古陶瓷研究项重要内容,它对古陶瓷产地鉴定及真伪鉴别起看十分重要作用。我们选用江西丰城洪州窑东汉晚期直到晚唐五代8个考古文化期共32个古瓷碎片,用SRXRF对其胎进行了多点分析线状区域扫描分析,并对釉面进行了区域扫描分析。初步确定了洪州窑古瓷化学组成产地特征:胎釉Fe,Tt等着色元素含量较高,釉钙高钾低,属高钙釉。

  • 标签: 江西 洪州窑古瓷 古陶瓷 元素谱 产地特征 SRXRF
  • 简介:用同步辐射原位高压能散X射线衍射技术,对碳纳米管进行了结构物性研究,压力达50.7GPa。室温常压下,碳纳米管结构石墨hcp结构相似,其(002)衍射线面间距d002=0.3404nm,(100)衍射线面间距d100=0.2116nm。从高压X射线衍射实验看到,当压力升到8GPa以上,(002)线变宽变弱,碳纳米管部分非晶化。而当压力10GPa或20GPa卸压至零,(002)线部分恢复。但当压力升至最高压力50.7GPa时,碳纳米管完全非晶化,而且这个非晶化相变不可逆。我们用Birch-Murnaghan方程拟合实验数据,得到体弹模量K0=54.3±3.2GPa(当K’0=4.0时)。

  • 标签: 碳纳米管 X射线衍射 同步辐射 结构
  • 简介:本文利用XAFS方法研究机械合金化方法制备Fe100-xCux(x=0,10,20,40,60,70,80,100,x原子百分比)合金Fe、Cu原子局域环境结构随组成变化。对于Fe100-xCux二元混合物,当x≥40时,Fe原子近邻配位结构bcc转变为fcc,但Cu原子近邻结构保持其fcc不变;与之相反,当x≤20时,Fe原子近邻配位保持bcc结构而Cu原子近邻配位结构fcc转变为bcc结构。XAFS结果还表明fcc结构Fe100-xCuxFe无序因子σ(0.009A)比bcc结构Fe100-xCuxσ(0.081A)大得多;并且机械合金化Fe100-xCux(x≥40)样品Fe原子σ(0.099A)比Cu原子σ(0.089A)大。这表明机械合金化Fe100-xCux样品FeCu原子可以有相同局域结构环境但不是均匀过饱和固溶体,而是fcc或bcc合金相同时存在Fe富集区Cu富集区。

  • 标签: 局域环境结构 XAFS Fe100-xCux合金 机械合金化 铁铜合金
  • 简介:红外吸收光谱表明样品含片状分散状分布杂质氮,属Ia型金刚石。利用同步辐射对晶体进行了形貌学研究近完整晶体内近中心(001)(010)结晶学平面内观察到生长带,生长方向平行于(111)(111)。欠完整晶体内小角度晶界发育,取向角达2.5°以上。晶体完整性与氮含量无明显相关关系。

  • 标签: 天然金刚石 生长结构 同步辐射 形貌 红外吸收光谱
  • 简介:X射线干涉测量技术是以非常稳定亚纳米量级硅单晶晶格作为基本长度单位,建立纳米级长度基准,从而实现纳米级精度测量、校验等功能。由于其纳米测量范围内特殊优越性,因而近年来该技术得到了迅速发展。该技术前提X射线干涉技术实现。根据X射线干涉特点,并考虑到X射线吸收特性,用单晶硅制出了LLL型X射线干涉器件。北京同步辐射实验室(BSRL)4W1A束线上选择17.5Kev能量同步辐射光进行了X射线干涉实验,拍摄底片上比较清楚地观察到了X射线干涉条纹。

  • 标签: 17.5Kev同步辐射光 干涉技术 X射线干涉测量技术
  • 简介:用蒸发/冷凝方法制备Cu/LiF团簇基多层膜,用广延X射线吸收精细结构(EXAFS)慢正电子束进行研究。与相应本材料相比,虽然未发现Cu-Cu键长有明显收缩,但其配位数减少,结构无序性增加。同时,讨论了制备条件对其微结构影响。

  • 标签: EXAFS 扩展X射线吸收精细结构 氟化锂 慢正电子束 结构无序性
  • 简介:利用角分辨紫外光电子谱对乙烯乙炔气体Ru(1010)表面的吸附及与K共吸附研究结果表明:当衬底温度超过200K,乙烯即发生脱氢反应,σCHσCC能级均向高结合能方向移动。室温下,σCHσCC能级位置与乙炔Ru(1010)表面的吸附时分子能级完全致。乙烯发生脱氢反应后主要产物乙炔。衬底温度120K到室温,Ru(1010)表面上乙炔σCHσCC能级均未发现变化。室温下乙炔仍然可以Ru(1010)表面分子状态稳定吸附。在有KRu(1010)表面上,室温时σCC谱峰几乎。碱金属K存在促进了乙炔分解。

  • 标签: C2H2 C2H4 K Ru(1010) 共吸附 UPS
  • 简介:采用高氢稀硅烷热丝化学气相沉积方法制备氢化微晶硅薄膜。其结构特征用Raman谱,红外透射谱,小角X射线散射等表征。结果表明微晶硅大小及薄膜晶态比Xc随氢稀释度提高而增加。而红外谱计算得到氢含量则随氢稀释度增加而减小。小角X射线散射结果表明薄膜致密度随氢稀释度增加而增加。结合红外谱小角X射线散射结果讨论与比较了不同相结构下硅网络H增加而增加。结合红外谱小角X射线散射结果讨论与比较了不同相结构下硅网络H键合状态。认为随着晶化发生晶化程度提高H逐渐移向晶粒表面,硅薄膜H存在形式SiH为主向SiH2转变,即在微晶硅膜主要以SiH2形式存在于晶粒界面。

  • 标签: 氢化 小射X射线散射 稀释 制备 微晶硅薄膜 微结构
  • 简介:应用扩展X射线精细结构(EXAFS)技术研究了化学改性MnO2锰及铋结构形态。结果表明:掺杂元素铋进入MnO2晶格,增大MnO2不同壳层配位无定形。MnO2-电子放电还原过程,铋氧化态保持稳定,MnO2没有发生结构重排。

  • 标签: 二氧化锰 掺杂 改性 EXAFS MNO2
  • 简介:本论文主要利用同步辐射白光貌相术单色光貌相术、常规X射线衍衬貌相术。同步辐射Laue衍射、高分辨X射线衍射、光学显微术,对KTP系列晶体生长缺陷、畴结构组态对物理性能影响,以及KTP晶体在外电场作用下结构变化作了观察、研究探讨。

  • 标签: KTIOPO4 同步辐射 磷酸钛氧钾 晶体结构 白光貌相术 单色光貌相术
  • 简介:测定了真空蒸镀WO3薄膜电致变色前后谱,发现钨原子与周围氧原子作用距离随着阳离子(K^+,Li^+)注入电量增加而增加,说明阳离子注入对WO3微结构有影响。

  • 标签: 三氧化钨薄膜 电致变色 EXAFS 微结构