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204 个结果
  • 简介:分析比较了激光光束质量的评价方法,采用衍射极限因子评价方法和焦平面阵列探测技术,设计并研制了强激光光束质量测量系统。该系统主要由多层介质膜反射分束镜、卡塞格伦式缩束器、聚焦透镜、焦平面阵列及数据处理器等组成,采用哈特曼夏克波前监测仪对多层介质膜反射分束镜的透射波前进行实时监测。结果表明,系统实现了对中红外、近红外和可见光波长的强激光光束质量实时在线测量,光束质量因子的测量不确定度均小于10%,性能稳定,能够用于实验测量。

  • 标签: 强激光 衍射极限因子 波前监测 焦平面阵列
  • 简介:为了充分利用原有机电控制技术试验台,满足机电控制技术课程实践教学的需要,并为先进控制系统研究提供实验平台,改造了原有的机电控制综合实验装置.该装置以电机为实验对象,增加实验对象加载装置,用VC++编写了控制界面,通过PC及PLC两级控制,完成电机特性测试、机电传动系统控制等实验内容.经使用表明,该套实验装置操作简单、开放性好、实战性强.通过本实验台,可提髙学生动手能力,完成了工程实践能力的培养.

  • 标签: 机电控制 实验系统 PLC 两级控制
  • 简介:介绍了我院针对分光计实验的实际情况,自行研制了CCD电子显示系统,解决了实验教学中的难题,收到了很好的教学效果。

  • 标签: 分光计 电子显示系统 教学效果
  • 简介:在对国内外HPM源辐射场测量系统进行分析的基础上,提出了一种HPM辐射场测量系统功率分配设计;基于X波段大功率微波源,对BJ-100高方向性定耦、SMA微波电缆和SMA同轴衰减器在相应功率水平下开展了功率容量实验研究,并进行了功率分配设计可行性验证;基于X波段RBWO,开展了功率分配设计在Gw级功率测量中的应用研究。实验结果表明,BJ-100高方向性定耦、SMA微波电缆和SMA同轴衰减器分别在300kW,1kW,400W工作正常,验证了HPM辐射场测量系统功率分配设计的合理性与可行性。

  • 标签: 高功率微波 辐射场 测量系统 功率分配
  • 简介:介于窄带和超宽谱之间的宽谱电磁脉冲系统,具有许多独特的优点:系统结构紧凑,容易做到小型化;辐射频谱宽、易于和目标耦合;具有载频,天线辐射效率高。为此,宽谱电磁脉冲系统具有很强的隐蔽性、突然性和多目标性。研究工作突破了快上升时间重复频率高压产生技术、宽谱脉冲形成技术和宽谱高功率天线技术等关键技术,研制了我国首套宽谱电磁脉冲试验系统,并开展了针对轩逸、富康等具有代表性汽车的宽谱电磁脉冲迫停效应实验。

  • 标签: 试验系统 超宽谱 电磁脉冲 车辆 脉冲系统 产生技术
  • 简介:本设计采用STC12C5A60S2单片机为核心控制器,用超声波测距传感器采集距离数据,采用IO触发测距,提供约为25us的高电平信号,利用公式:测试距离=(高电平时间*声速(340m/s))/2来计算距离,采用L298N驱动模块利用PWM驱动电路,从而实现自动调节小车速度、无障碍时自动发出警报的功能。

  • 标签: STC12C5A60S2单片机 超声波测距 传感器 PWM变速 电动小车
  • 简介:IDMEF(IntrusionDetectionMessageExchangeFormat)是因特网工程任务组(IETF)下属的IDWG(IntrusionDetectionExchangeFormatWorkingGroup)定义的一个统一入侵检测警报消息格式。这里着重介绍利用IDMEF联系网络入侵检测系统(NIDS)和主机入侵检测系统(HIDS)的警报信息的应用。

  • 标签: IDMEF 警报管理系统 因特网 网络入侵检测 消息格式
  • 简介:测量了ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-Co2O3,ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-Cr2O3,ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-MnO2和ZnOTiO2-Bi2O3-CuO-MnO2-Co2O3-Cr2O3压敏陶瓷的正电子寿命谱及其性能参数。研究了MnO2、Co2O3和Cr2O3掺杂对ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO压敏陶瓷电子密度和性能的影响。实验发现:ZnO-TiO2-Bi2O3-CuOCr2O3压敏陶瓷基体和晶界缺陷态的电子密度均最高,其压敏电压最低;ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-MnO2压敏陶瓷晶界缺陷态的电子密度最低,其压敏电压比前者高;ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-Co2O3压敏陶瓷基体(晶粒内)的电子密度最低,其压敏电压较高;而ZnO-TiO2-Bi2O3-CuO-MnO2-Co2O3-Cr2O3压敏陶瓷基体和晶界缺陷态的电子密度均较低,其压敏电压VT和非线性系数ɑ最高,漏电流IL最小。

  • 标签: ZnO基压敏电阻 金属氧化物掺杂 缺陷 电子密度 电性能
  • 简介:通过Flash软件开发了适合网络运行的物理实验自测系统系统开发了包括多达八种题型的试题库和系统,能满足物理实验测试的要求,学生可以通过访问大学物理实验网站进入该系统,并可以针对本学期的实验项目进行自我测验,系统可以自动评分,给出成绩报告。

  • 标签: FLASH 物理实验 自我测验 题型
  • 简介:眼底成像技术可检测临床视网膜组织状态,其检测结果已成为多种眼底疾病诊断的重要依据。然而,传统的眼底成像系统需要专业医护人员操作,且具有体积大、价格昂贵等缺点。随着智能手机的图像采集、存储、数据传输等功能的不断提升,基于智能手机的眼底成像系统可有效弥补传统眼底成像系统的上述缺陷。在本研究中,我们设计了照明和成像光路并利用3D打印技术将其小型化,通过与智能手机相结合实现了对人眼视网膜图像的采集。结果表明,基于智能手机的眼底相机距离模拟眼的工作距离约为17mm,安置于体积仅为88mm×79mm×42mm(长×宽×高)的手机外设配件中。随后,利用Zemax对系统光学参数进行了进一步优化。经优化后的成像系统,畸变保持在0.2%范围内,场曲小于10μm。该系统具有便携性良好、创、价格低廉等优点,未来可用于多种眼底疾病的社区筛查工作。

  • 标签: 眼底成像 便携式设备 成像系统 数值仿真
  • 简介:针对第9路激光系统进行了软边光阑设计。首先编制了第9路激光系统光路传输模拟程序,通过计算“神光”-Ⅱ光路作为验证,以保证程序可用性。在传输模拟程序中,考虑了激光系统各级放大器的增益不均匀性以及增益饱和因素。最后利用这个程序,研究软边光阑各个参数对光束质量的影响,设计适合第9路系统的软边光阑,使系统中光束的填充因子尽可能大,光场调制度尽可能小。

  • 标签: 高功率激光系统 软边光阑 设计 模拟程序 增益饱和 光束质量
  • 简介:"对称测量法"是物理实验中常用的消除系统误差的方法。为此,文中通过几个实例具体探讨了如何利用"对称测量法"消除实验中的一些系统误差的影响,以提高实验的测量准确度。这对实验教学具有一定的实际参考意义。

  • 标签: 系统误差 消除 对称测量法
  • 简介:用VB6.0设计了密立根油滴数据处理系统,通过VB内部程序操纵Excel应用程序,运用ActiveX技术调用Excel,解决实验数据计算量大,计算过程繁琐复杂的问题,从而提高了实验效率。

  • 标签: 密立根油滴实验 VISUAL Basic 6.0 EXCEL
  • 简介:本文介绍了大学物理实验的计算机管理方法和实现方法,从实验数据的处理方法、实验成绩的测评方法等进行了详细论述。

  • 标签: 物理实验 计算机 数据库
  • 简介:设计了一套高速数字化图像采集系统,描述了CMOS图像传感器的驱动及USB接口传输控制电路。利用CPLD器件,编程设计了图像传感器的驱动逻辑电路,研制了多路并行图像数据缓冲存储以及总线转换模块电路;采用USB2.0模块,设计了USB接口的数据采集电路,实现了高速图像数据的USB传输。

  • 标签: CMOS图像传感器 USB接口 CPLD时序控制
  • 简介:O435.12005031632多曲面反射体的计算机辅助设计及优化=Automaticde-signandoptimizationofsegmentedfreeformreflector[刊,中]/杨波(北京理工大学光电工程系.北京(100081)),刘一超…∥光子学报.-2004,33(8).-970-973研究了自由曲面反射式照明系统的设计理论和方法。根据反射器的尺寸、位置以及配光要求按点光源设计得到曲面型值点初始坐标后,将双三次B样条曲面引入照明系

  • 标签: 光学传递函数 成像系统 几何光学 光学系统 光子学 点扩展函数
  • 简介:利用集成电路芯片结合光敏晶体管等器件设计并成功制作了一种自动化测量的干涉条纹计数仪器,以实现干涉条纹的自动测量、可逆计数显示等功能.设计方案包括基于光敏晶体管RPM-075PT获取光电信号,以集成电路ST288A准确判别干涉条纹的凹进冒出方向以反映等厚或等倾干涉中光程的变化情况,使用集成电路ICM7217A进行条纹可逆计数.进一步的,使用自带整形滤波功能芯片ST288A以简化方向判别电路及提高抗干扰能力.最后,实验测试结果表明本计数器全面满足干涉条纹的计数要求,可取代人工观测条纹计数,可广泛应用于高校实验、企业检测等应用干涉条纹计数的场景中.

  • 标签: 光敏晶体管 干涉条纹 可逆计数
  • 简介:在分析SDRAM器件辐射失效现象的基础上,研制了具备读写功能测试、刷新周期测试及功耗电流测试三种功能的SDRAM辐射效应在线测试系统,并开展了SDRAM的总剂量效应实验研究.结果表明,总剂量效应会导致SDRAM器件的数据保持时间不断减小,功耗电流不断增大以及读写功能失效.实验样品MT48LC8M32B2的功能失效主要由外围控制电路造成,而非存储单元翻转.数据保持时间虽然随着辐照剂量的累积不断减小,但不是造成该器件功能失效的直接原因.

  • 标签: SDRAM 辐射效应 测试系统 刷新周期 总剂量效应 单粒子效应