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  • 简介:X射线干涉测量技术是以非常稳定的亚纳米量级的硅单晶的晶格作为基本长度单位,以建立纳米级长度基准,从而实现纳米级精度的测量、校验等功能。由于其在纳米测量范围内的特殊优越性,因而近年来该技术得到了迅速发展。该技术的前提是X射线干涉技术的实现。根据X射线干涉的特点,并考虑到X射线的吸收特性,用单晶硅制出了LLL型X射线干涉器件。在北京同步辐射实验室(BSRL)4W1A束线上选择17.5Kev能量的同步辐射光进行了X射线干涉实验,在拍摄的底片上比较清楚地观察到了X射线干涉条纹。

  • 标签: 17.5Kev同步辐射光 干涉技术 X射线干涉测量技术
  • 简介:介绍了一种利用电容法检测两金属体之间间隙的方法,开发研制了间隙检测系统。该方法采用合理的屏蔽技术,克服了分布电容和外界电磁干扰对检测系统的影响,检测系统具有较高的检测精度和稳定性,测量不确定度优于0.03mm。

  • 标签: 电容法 间隙 屏蔽技术
  • 简介:介绍了国际上对PSA开发质量和应用过程进行规范的技术标准和导则,以ASME标准和RG1.174、RG1.177为例,对这些标准和导则的适用性进行了分析,并结合我国的PSA开发与应用趋势,提出了建立我国技术标准和导则的建议。

  • 标签: 概率安全评价 标准 导则
  • 简介:我国运行核电机组大量增加,对运行机组的监管提出了新的挑战。核电厂运行技术规格书是限定反应堆正常运行边界,确保机组运行在安全限值和事故假设范围之内的文件,严格遵守运行技术规格书对确保核安全具有重要意义。本文从法规建设、能力建设、监管成效三方面分析了我国核电厂运行技术规格书的监管现状,从标准化、精细化、自洽性等方面梳理了目前运行技术规格书监管中存在的问题和不足,并就这些问题和不足提出了针对性的对策和建议。

  • 标签: 核电厂 运行技术规格书 监管
  • 简介:在遵循核安全法规的要求的基础上,确保大修质量受控,优化大修进度管理,对大修项目进行合理控制;从历史数据中设置缓冲区模型;考虑资源约束下的大修项目管理,结合秦山核电大修实践经验,将关键链技术引入秦山核电大修项目进度管理中,具有借鉴和实践意义。期望为其它核电站大修提供有益的借鉴。

  • 标签: 核电 大修 关键链 缓冲区
  • 简介:国内某核电厂运行技术规范规定反应堆功率运行模式下“一回路系统压力维持在155±1bar.a”,但反应堆冷却剂系统正常压力调节可能导致一回路压力超出此范围。文中对一回路压力的调节原理进行了分析,列举了相关文件的技术要求,回顾了运行技术规范的发展历史,最终说明运行技术规范的内容不适当。最后,给出了运行技术规范关于一回路压力管理的建议。

  • 标签: 一回路压力 运行技术规范 期望值
  • 简介:文章在研究二维条形码信息自动识别标准化的基础上,结合天然铀核燃料仓储管理工作的实际,提出了核燃料仓储管理中的标准需求,初步建立了核燃料仓储管理业务流程的信息模型,给出了核燃料容器和位置的编码规范、电子位置图二维仿真规范、核燃料仓储管理信息安全规范、核燃料容器移动最短路径计算方法等技术标准的草案,将实现核燃料在设施间调拨、入库存放、库间调拨、实物盘存、位置移动等关键管理环节的标准化,以提升核燃料仓储管理的能力和水平。

  • 标签: 条形码 自动识别 标准 核燃料 仓储管理
  • 简介:国家核安全局于2017年8月发布了《改进核电厂维修有效性的技术政策(试行)》,鼓励核电厂逐步开展相关维修活动的优化研究,并建立维修有效性和风险管理体系。本文通过对维修规则技术进行研究并对技术政策的条款进行解读,使核电厂营运单位更充分地理解和执行技术政策,以推进风险指引型维修规则体系的建立和实施。

  • 标签: 维修有效性 技术政策 风险指引
  • 简介:1前言安全壳是核电站反应堆的最后一道安全屏障,对核电的安全至关重要。根据国际原子能机构为规定和国际惯例,核电站建成后,必须经过安全壳结构整体性试验(SIT),检验安全壳在构造、强度和施工质量方面承受失水事故工况的能力。检测评定合格,方能装料发电。安全壳结构检测项目(SIT),除测试传感器、数据采集处理等试验技术外,还包括安全壳结构分析,实测与计算的吻合分析、安全评估等多项工作内容。压水反应堆核电厂的安全壳有钢结构、钢筋混凝土结构、预应力混凝土结构几种形式,其中预应力混凝土结构由于性能好,近年来得到各核电国的重视。美、日、法等国家对该种安全壳,从原材料、节点构造到施工工艺、模型试验等进行过系统的试验研究。对于安全壳结构整体性试验(SIT),也建立起一套较为完整的测试系统和技术制度,编制了相应的规程和标准。

  • 标签: 安全壳结构 核电站安全 检测标准 整体性试验 整体性能 秦山核电站
  • 简介:利用双晶单色器和精密二圆衍射仪,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术,并用这一实验技术结合X射线衍射方法,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构。实验结果表明,由于Ge原子的偏析,在Si晶体样品中形成了共格生长的GexSi1-x合金层,浓度平均值为X=0.13;650℃退火会使Ge原子向表面扩散,Si晶体中的合金层消失,在晶体表面形成接近纯Ge的单原子层。

  • 标签: 同步辐射 X射线驻波实验技术 半导体超薄异质外延层 硅晶体 外延生长 超薄锗厚子层