简介：为初步探讨硫化镉量子点（CdSQDs）的细胞毒性作用机制,采用MTT毒性实验比较了CdSQDs和常规CdS对仓鼠肺细胞（CHL）的毒性效应以及细胞内外活性氧水平.结果表明,1）在较低暴露浓度（≤20μg·mL-1）时,CdSQDs细胞毒性显著高于常规CdS,而在较高暴露浓度（〉20μg·mL-1）时,两者相差不大.2）在较低暴露浓度（≤40μg·mL-1）时,添加N-乙酰半胱氨酸（NAC）可显著降低CdSQDs的细胞毒性,而在较高暴露浓度（〉40μg·mL-1）时,添加NAC对CdSQDs的细胞毒性没有明显影响.添加NAC对常规CdS细胞毒性没有显著影响.综合实验结果推测CdSQDs的细胞毒性与暴露剂量有关：在低浓度（〈20μg·mL-1）时,主要是活性氧的氧化损伤作用;在中等浓度（20~40μg·mL-1）时,活性氧和Cd2＋的释放共同作用;在高浓度（〉40μg·mL-1）时,则是Cd2＋的释放占主导地位.

简介：近日，中国成功发射全球首颗量子科学实验卫星。这颗以中国古代科学家墨子命名的“墨子号”卫星，带着探索星地量子通信的使命升空，将继续为中国和世界的前沿科技“探路”。据悉，通信方式。量子不可分割、不可克隆，所以能保证加密内容不被破译，可以从根本上保障信息安全、保护全人类的隐私。此外，根据量子科学实验卫星工程首席科学家潘建伟表示，理论上绝对安全的通信一旦实现，政府、军队和银行，乃至全社会都将获益。

简介：为比较硫化镉量子点（CdSquantumdots，CdSQDs）与常规硫化镉（CdS）对小鼠的遗传毒性作用，将30只昆明种健康雄性小鼠随机分为对照组、CdSQDs组和常规CdS组，通过经口灌胃法进行染毒，其中CdSQDs组和常规CdS组染毒剂量为100mg·kg^-1，对照组为等体积的生理盐水．染毒35d后将小鼠处死，通过单细胞凝胶电泳观察外周血淋巴细胞DNA损伤情况，取小鼠一侧附睾观察精子畸形率，并取双侧肾脏做组织病理学检验．结果表明，与对照组小鼠比较，CdSQDs组和常规CdS组小鼠DNA损伤和精子畸形率均显著升高（p〈0．05）；CdSQDs组小鼠DNA损伤程度及精子畸形率均显著低于常规CdS组（p〈0．05）；组织病理切片观察显示，两种材料均可引起小鼠肾脏病变，但CdSQDs组小鼠病变程度明显轻于常规CdS组．以上结果提示，CdSQDs和常规CdS均会对小鼠产生一定程度的遗传毒性作用，但CdSQDs毒性低于相同剂量的常规CdS．

简介：摘要：随着科技的创新发展，电力系统继电保护运行电路的在线监测方法也在不断创新和完善。因此，电力技术人员要继续研究和应用新的监测技术，并对现有方法不断进行改进和优化，为电力系统的运行安全提供重要的支持和保障。为了最大限度地保障继电保护系统稳定、安全运行，相关人员应注重继电保护运行电路的在线监测，基于监测结果，以便及时发现异常情况，为消除安全隐患奠定良好的基础。基于此，本文主要分析了继电保护运行电路在线监测。

简介：摘要：集成电路作为现代电子设备的核心部件，其性能和质量直接关系到整个系统的稳定性和可靠性。因此，对集成电路进行全面、准确的测试至关重要。然而，传统的测试方法往往存在效率低下、操作复杂等问题，无法满足现代集成电路测试的需求。为了解决这个问题，设计并实现了一个集成电路测试管理系统。该系统通过自动化和智能化的手段，简化了测试流程，提高了测试效率，为集成电路的质量控制提供了有效的工具。基于此，本篇文章对集成电路测试管理系统的设计与实现进行研究，以供参考。

简介：摘要：随着电力技术的不断发展，电路保护成为保障设备安全、稳定运行的重要环节。熔断器作为一种简单而有效的电路保护装置，广泛应用于各类电力系统和电气设备中，成为保障现代社会电力供应安全与可靠的重要力量。随着技术的不断进步，熔断器的性能将持续提升，为电力行业的繁荣发展贡献更多智慧与力量。

简介：摘要：高可靠集成电路是现代电子产品中不可或缺的核心组成部分。然而，由于各种原因，高可靠集成电路也存在着一定的失效风险。了解典型的失效模式类型和其原因分析，对于提高集成电路的可靠性和性能至关重要。通过持续的创新和改进，我们可以进一步提高高可靠集成电路的可靠性和性能，为电子产品的发展做出更大的贡献。

简介：针对视频监控中摄像机镜头光圈大小、图像聚焦、图像变焦三项参数的控制问题,介绍了一种基于89C51单片机的镜头控制电路的设计.该电路以89C51单片机为核心,结构简单,成本低廉,控制可靠,实现了智能监控终端对摄像参数的完全控制.

简介：摘要：随着集成电路技术的发展和应用需求的提高，对封装方案的要求也变得越来越高。CMH全无机封装作为一种新兴的封装技术，因其优异的性能和应用潜力而备受关注。对其热性能、电性能和机械性能进行分析，在整体封装方案中的应用。CMH全无机封装的优势，有助于更好地理解该技术在集成电路封装中的价值。基于此，本篇文章对CMH全无机封装在集成电路封装中的应用与性能进行研究，以供参考。