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13 个结果
  • 简介:X射线计量标准的建立和X射线探测器标定是目前国内急需解决的课题,本文简单介绍了两套北京同步辐射X射线装置,它们主要用于X射线光学元件测量和X射线探测元、器件的标定。另外给出了近年来在X射线测量装置上开展的计量标准和探测器标定方面的研究结果。

  • 标签: 北京同步辐射软X射线装置 软X射线探测器 标定 软X射线 计量
  • 简介:X射线干涉测量是通过X射线激光经过马赫-詹德干涉仪完成的,是测量驱动激光临界面附近等离子体状态的重要方法。本文基于X射线多层膜的性能特点,指出X射线干涉测量的干涉仪各光学元件的入射角越接近正入射越好,分束镜的设计应以其反射率和透过率的乘积为衡量标准。用离子束溅射法制作了类镍银13.9nmX射线激光干涉测量所需的分束镜,实测表明其面形精度达到纳米量级,反射率和透过率乘积大于1.6%。

  • 标签: 软X射线干涉测量 分束镜 激光 多层膜 等离子体 入射角
  • 简介:详细介绍了X射线绝对光强测量系统的设计和结构及其标定的情况和结果。测量系统包括电离室、监测(或待标定)探测器及其传动系统两部分,可作为50-2000eVX射线绝对强度测量的一级标准探测器,并给出了系统的偏差。

  • 标签: 测量系统 软X射线 绝对光强 测量 电离室 标定
  • 简介:X光扫描相机是对X光时间特性进行研究的主要诊断工具。我们利用同步辐射作为光源,对它的静态性能:能量响应、增益等性能进行了相对标定,给出了X光条纹相机的能量响应曲线和增益特性曲线,并与利用Henke的经验公式^[1]计算给出的响应曲线比较,其结果与理论较符合。

  • 标签: 软X射线条纹相机 静态性能 标定 软X光 时间特性 诊断
  • 简介:同步辐射X射线(白光)对InP表现进行了辐照。并对样品的表面电子结构作了UPS和XPS分析。结果显示,样品表面电子态变化明显,P3a峰化学位移大于In4d峰。与In非键合的P2p峰面积辐照后显著增加。说明X射线对InP表现F原子的电离损伤要大于In原子。

  • 标签: 软X射线 INP 表面微结构 磷化铟 半导体 电离损伤
  • 简介:X射线监测系统的建立,结构特点和性能,有效地解决了气体的吸收和窗膜的透过率等因素的影响。申请获得了美国布鲁克海文国家实验室(BNL)的用光时间,对监测系统的性能进行研究,并给出了该系统的精度及与国际标准的比对结果。

  • 标签: 软X射线 软X射线监测系统 国际标准 电离室 光强度 测量
  • 简介:本文用EXAFS方法研究了Fe85Zr9B6和Fe84Zr9B6Cul合金退火过程中Fe和Zr原子近邻配位结构的变化。表明在823K以下整个退火过程中Zr原子始终存在于非晶相中,没有进入晶化相。晶化相为bccα-Fe。Cu的加入降低了晶化温度。

  • 标签: FeZrB 纳米晶软磁合金 原子近邻结构 EXAFS
  • 简介:在同步辐射X光能区(50-2000eV)进行了硅光电二极管的自标定实验,因为消除了二极管的“死区”并采用很薄层的SiO2作窗,使得可以用简单的模型来分析实验结果,由实验测得的光电流,计算出硅光电二极管的量子效率,并求得入射同步辐射的光通量。

  • 标签: 同步辐射 硅光电二极管 自标定 量子效率 工作原理 气通量