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简介：由中国光学学会光电技术专业委员会和中国仪器仪表学会光机电技术与系统集成分会联合主办的第十二届全国光电技术与系统学术会议和第二届全国光机电技术与系统学术会议将于2007年9月下旬在四川绵阳召开。热忱欢迎从事光电技术、光学工程和光机电仪器等领域的科学研究人员和工程技术人员参加会议并积极投稿。同时也热忱欢迎从事光电产品研发、生产和销售的公司、厂家参与产品展示,届时主办单位将提供产品介绍的时间和产品展示场地。一会议时间2007年9月21日~27日,其中21日全天报到二会议地点四川省绵阳市临园宾馆三征文内容光电检测技术与系统;光学设计与检测;先进光电工程与技术;光通信与传感技术;纳米技术及其应用;光电信

简介：阐述了光纤消光法检测脉冲激光测距仪消光比的测试原理，采用光纤消光法分析了光纤对大功率脉冲激光的耦合与传输等关键技术问题，提出了0．22NA、400μm大功率传能光纤方案，并设计了耦合器和光学系统，分析了聚焦透镜的损耗、光纤端面的损耗、光纤耦合器与光纤的对准误差等影响耦合效率的因素，计算了光学系统弥散斑数据，接收光学系统和发射光学系统在1ω视场的弥散斑分别为9．03μm和10．6μm。设计分析结果对光纤消光法的工程应用具有一定的研究价值。

简介：采用人工溅射的方式分别在熔石英基片上镀制了光学厚度相近的铜膜和铁膜污染物。研究了熔石英基底在355nm波长的激光损伤阈值。分别采用透射式光热透镜技术、椭偏仪、原子力显微镜和光学显微镜研究了两类薄膜的热吸收、膜层厚度、表面微观形貌以及激光辐照后薄膜的损伤形貌。实验结果表明：熔石英表面的金属膜状污染物均导致基片损伤阈值下降，位于前表面的污染物引起的损伤阈值下降更为严重，约为23％。两种污染物薄膜引起基底的损伤形貌、基底损伤阈值的下降幅度与薄膜的热吸收系数与微观结构有关。从热力学响应角度，结合损伤形貌对污染物诱导熔石英表面形貌的损伤机理进行了讨论。

简介：光学窗口的强度分析是光电设备设计的重要依据，而现有文献中只提供材料泊松比为0．3的简化的计算公式，而针对不同泊松比的简支矩形板强度原始计算公式以复杂的级数形式表示不方便直接应用，为了方便设计者得到准确的强度理论分析结果，提供了一种简单的方法推导出适用于不同泊松比的简支式矩形保护窗口的强度简化计算公式，并验证了该方法推导出的简化公式的准确性。

简介：本刊讯移动多媒体业务要求高容量，高带宽，高质量的传输方式，而目前移动通信系统效率低、费用高，容量受限，难以满足移动多媒体巨量信息的传输需求。相关国际标准均存在高昂的专利许可费。为打破国外技术垄断，依托华中科技大学、武汉汉网高技术有限公司，由朱光喜、喻莉、刘文予、邱锦波、吴伟民、冯镔等人完成的“基于IP的宽带移动多媒体通信新技术”项目提出一种“基于统计复用的全IP包交换方式”，将独占信道变为多用户动态统计复用，并通过QoS机制和资源管理，有效提高传输效率和系统容量，获得2008年湖北省技术发明一等奖。

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简介：通过把脉宽为lOns、波长为1064nm的激光脉冲聚焦通过K9玻璃的方法，研究了玻璃的损伤形貌特点与高强度纳秒激光脉冲的关系。当激光脉？中聚焦在样品中心时，产生的破坏点的特点为前端大，后端小，并且纵向出现裂纹，使用高强度激光与物质相互作用时产生的激光支持的爆轰波特点解释了这些破坏特点。当激光脉冲聚焦在样品表面时，产生的破坏特点是串状的，即带有点状破坏的丝状破坏，这是由于内部缺陷或颗粒和动态自聚焦作用的结果。

简介：采用高速DSP芯片TMS320F2812和USB2．0接口芯片CY7C68001来解决激光雕刻切割机控制系统数据传输中的低速问题。介绍了系统的硬件连接及软件实现。通过实际测试证明，USB2．0接口的实际数据传输速度最高可达200Mbps，完全可以满足激光雕刻切割机控制系统高速、实时传输的要求；同时利用USB总线对整个系统进行了有效地扩展。

简介：以“四程＋助推”放大系统为例，运用蒙特卡罗（Monte—Carlo）法计算分析了放大过程中注入能量、放大增益及损耗单独存在随机变化和以上因素共同作用时对系统输出能量稳定性的影响。计算结果表明，系统输出能量稳定性对四程小信号增益系数和腔内光学元件透过率的随机变化相当敏感；小信号增益随机变化明显大于注入能量对输出能量稳定性的影响。同时，也说明应用蒙特卡罗方法解决随机性问题的有效性和简洁性。

简介：制备了一种以碱性品红为光敏剂的新型全息存储材料，且使用波长为441nm的He—Cd激光器成功研究了材料的全息特性。研究表明，该材料在短波长处仍具有较高的衍射效率、曝光灵敏度和较大的折射率调制度，衍射效率近60％，灵敏度为2．93×101c群／mJ，折射率调制度为8．85×10．。。在存储介质膜中存储了全息图像，再现图像较为清晰，对比度与保真度较为理想，说明该材料具有较好的全息存储性能，适合作为高密度全息存储介质。

简介：对于最大幅宽为500mm的胶片，提出了一种基于线阵CCD技术实现印刷电路板胶片尺寸及缺陷的在线检测方法。设计的线阵CCD和被测胶片相结合的二维双向运动机构完成扫描成像。设计的成像系统使得线阵CCD成像范围覆盖一个被测单元的幅面，避免了图像拼接时所引入的误差。扫描图像先经模板匹配定位感兴趣区域，再对针孔区域、缺角区域分别采用了区域生长法和差影法来实现缺陷检测，线段区域则通过区域分割法来实现尺寸测量。实验表明，该方法不仅能够对针孔、缺角进行有效的判别，而且能准确地测量出线宽和线间距，分辨率可达0．025mm。

简介：与传统宽波段成像系统相比,多光谱成像系统在性能表征、测试方法等方面有较大不同,而相关研究较为欠缺。因此,需要重点研究多光谱成像系统的综合性能评估方法。解决了目标光谱反射率等效控制、宽波段光谱维度的带内细分和标准靶标辐亮度调节等关键技术,设计了基于AOTF的多光谱成像系统二维鉴别率阈值测试平台及测试方法。在理论分析基础上,实际搭建了基于AOTF的可见光多光谱成像系统,叙述了系统标定方法和测试步骤,并基于所述方法在实验室条件下完成了系统空间分辨率、目标光谱反射率与对比度阈值的三维曲面测试实验。测试结果标明,所提出的方法可较好地反映不同谱段响应特性的差异,实现对多光谱成像系统的性能表征。基于该方法,可综合评估系统光谱分辨率、空间分辨率、灵敏度、对比度等性能指标,从而为多光谱成像系统性能的定量表征提供技术支持。

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简介：2013年5月25-26日，第六届国际光子与光电子会议（The6thInternationalPhotonicsandOp—toElectronicsMeetings，POEM2013）在武汉光电国家实验室召开。开幕式上，美国光学学会的首席执行官ElizabethA．Rogan女士和华中科技大学副校长、武汉光电国家实验室常务副主任骆清铭教授到会致辞。4名本领域权威专家作全体大会报告，分别是：澳大利亚科学院院士、工程院院士、国际电工委员会委员，澳大利亚新南威尔士大学教授及超高效光电学研究中心执行研究主任MartinGreen，澳大利亚科学院院士、工程院院士、澳大利亚桂冠院士