论文查询检索-中国期刊网

学科分类

核科学技术
核科学技术

年份：

不限 2024 2023 2022 2021 2020 2019 2018 2017 2016 2015 2014 2013 2012 更早

最新浏览↓

共 4 个结果

测量XAFS谱的全电子产额技术

简介：在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X－射线在样品表面激发出的电子产额随X－射线能量的变化，提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明，在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单，可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立，有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
标签：测量 XAFS谱全电子产额技术同步辐射 X-射线吸收精细结构磁控溅射

全文阅读

叶绿素稀土配位结构的EXAFS研究——镧叶绿素a双层夹心分子结构的确认

简介：通过合成镧叶绿素a(La-Chla),研究稀土在叶绿素中的赋存状态。La-Chla的紫外可见光谱（UV－vis)、红外光谱（FT－IR）证实，镧离子已配位到叶绿素a的卟啉环上。其磁圆二色谱（MCD）在Soret带具有双层夹心卟啉结构的特征结构。通过扩展X射线吸收精细结构谱（EXAFS），采用双层夹心结构模型拟合，确定La周围的近邻结构，取得满意结果。表明合成镧叶绿素a具有双层夹心结构，La夹于两个卟啉环之间，与上下卟啉环上共八个N原子配位，La-N平均键长0.261nm。
标签：稀土配位结构双层夹心分子结构镧叶绿素a EXAFS MCD

全文阅读

KTiOAsO4晶体的铁电畴与位错的多种实验方法研究

简介：利用原子力显微镜，同步辐射X射线形貌术和化学腐蚀光学显微等方法深入研究了KTiOAsO4晶体缺陷中的铁电畴和位错。首次用原子力显微镜给出了用两种腐蚀剂腐蚀过的KTA晶体表面的铁电畴和位错蚀坑的照片及定量信息，如发现铁电畴的明区要高于暗区，且两者的粗糙度明显不同。这为研究各种晶体的生长缺陷开辟了一条新的途径。
标签： KTiOAsO4晶体原子力显微镜同步辐射X射线形貌像铁电畴位错激光倍频材料

全文阅读

用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱

简介：
标签：全电子产额技术测量薄膜材料 XAFS谱

全文阅读

返回顶部