简介:由人民邮电出版社主办,北京《通信世界》杂志社承办的“2006年FMC和IMS技术应用论坛”将于2006年7月12日在北京举行。论坛将以“演进与机会”为主题,就FMC(固定和移动通信融合)的产业政策、网络建设、业务应用以及IMS(IP多媒体子系统)的发展等内容进行交流和探讨,届时信息产业部有关领导,国内外著名研究机构的权威专家,部分海外电信运营企业的代表,中国电信、中国网通、中国移动、中国联通、中国卫通、中国铁通等国内运营商相关部门的负责人,从事FMC和IMS相关技术与产品研究开发的企业代表将应邀出席本次论坛并做精彩的演讲。
简介:IBM已将铜柱栅阵列(CuCGA)互连用作为陶瓷柱栅阵列(CCGA)上锡铅焊料柱的无铅替代品(见图1)。像CCGA一样,CuCGA提供一种高可靠性封装解决方案,可以使用具有优良的电性能和热性能的陶瓷芯片载体。取消铅在微电子封装中的应用的行动增加了大尺寸、高I/O封装的制造复杂性。与新型封装互连结构的开发一致的可制造卡组装和返工工艺的开发对于技术的可接收性是至关重要的。设计的铜柱栅阵列(CuCGA)互连可满足可制造性、可靠性和电性能等多方面的要求。可制造性的结构优化重点是在制造处理过程中保证柱的牢固性和具有便捷的卡组装工艺。最终卡上的焊点对于互连的可靠性是至关重要的。互连的几何形状还影响到电性能【1】。评估这些有竞争性因素决定着最后的柱设计【2】。本文重点讨论了CuCGA卡组装和返工工艺的开发和可靠性评估。工艺开发的目的是将成功的SMT组装工艺用于CCGA,以便开发出标准的无铅SMT工艺。将CuCGA组装工艺成功地集成于锡银一铜(SnAgCu,或者SAC)卡组装工艺的开发中,这对于贴装、再流和返修领域都将是一个挑战。本文将讨论通过可靠性评估说明这些工艺的优化和成功结果的实例。