学科分类
/ 25
500 个结果
  • 简介:本文用EXAFS对三种钴基合成柴油催化剂进行了表征,结果表明Co-Zr共沉淀催化剂与Co/Zr浸渍型催化剂钴物相主要为Co3O4,Co-Zr-Si混合沉淀型催化剂钴物相主要为Co2SiO4,共沉淀催化剂钴配位数明显降低,钴锆相互分散好,接触界面大,因而反应活性高,重质烃选择性高,而混合沉淀型催化剂Co2SiO4物相在预处理条件下难以还原,所以反应活性低,重质烃选择性较差。

  • 标签: 合成 柴油 Co基催化剂 EXAFS 表征
  • 简介:针对核仪器标准“未进行误差合成而不能给出最大工作误差”和“单项误差测量、计算方法不同”两个问题带来困难,建议制定“核仪器测量误差”标准。通过研究误差理论和分析现行核仪器标准中关于误差合成计算公式,本文提出了误差合成计算方法以及统一固有误差、重复性、不稳定性和非线性等误差测量和计算方法具体建议。

  • 标签: 核仪器 标准 测量 误差 标准偏差
  • 简介:华东核与辐射安全监督站在20世纪90年代对核安全监督规范化工作进行了探索和实践,初步总结了对监督站近20年开展相关工作,提出了关于国家核安全局开展监管规范化工作几点建议.

  • 标签: 核安全 监督 规范化
  • 简介:本文介绍用BEPC同步光做激发源,对所研制平面晶体位置灵敏谱仪性能进行研究结果。用LiF(200)晶体,测得TiKα能量分辨率达14.2eV,好于质子激发结果(15eV),能清楚地分开不锈钢中CrKβ与MnKα两峰,和可探测一气溶胶样品中Ti绝对量达10^-9-10^-10g水平。这些数据将为位置灵敏谱仪用同步光开展应用提供重要依据。

  • 标签: 同步光 激发源 PSS 平面晶体位置灵敏谱仪
  • 简介:秦山第三核电厂CANDU-6型重水堆已经进入商业运行阶段,上海监督站在对重水堆监督过程中遇到了一些新问题,如重水泄漏与损失、燃料棒束包壳破损以及在电厂大修期间由启动仪表导致第一停堆系统误动作等.本文就这些特殊问题处理原则进行探讨,并提出了自己见解.

  • 标签: 核安全监督 CANDU堆 事件报告
  • 简介:结合核安全验证试验审评需求,本文对热工水力验证试验评价关键问题进行了研究。通过梳理热工水力核安全验证试验种类及特点,分析了我国核安全法规对验证试验要求,总结了国内外热工水力验证试验监管及评价实践。基于热工水力验证试验技术要素,提出了我国热工水力验证试验评价方法。研究结果表明:我国验证试验关键技术环节监管尚缺乏技术指导文件;国内外已有验证试验监管中,技术文件审查、试验现场见证、独立试验验证和质量保证评估是监管和评价主要方式;基于试验装置及测量、边界条件及工况、数据分析结果等关键技术,结合质量保证基本要求,可得到热工水力验证试验评价要求。

  • 标签: 热工水力 试验验证 核安全 质量保证 监管实践
  • 简介:本文就极限概念作了进一步阐述。指出不应把探测极限和不同定义探测仪器指标混用。“本底”一词也有不同含义,应用时亦应慎重。文中还讨论了判“无”限实际使用问题。本文认为应分清检测客观可能性与主观愿望区别。

  • 标签: 辐射监测 统计检验 灵敏度分析
  • 简介:本文简要介绍了核电厂安全壳电气贯穿件以及相关鉴定标准,并着重介绍了IEEE317标准演变历程。阐述了基于IEEE317标准电气贯穿件鉴定试验方案制定,并针对AP/CAP系列核电电气贯穿件鉴定提供了鉴定试验序列实例。结合实践经验,分析讨论了按照IEEE317标准实施鉴定试验过程中存在问题及解决方法。相关研究结果可为核电行业应用IEEE标准开展核电设备鉴定提供借鉴。

  • 标签: 电气贯穿件 设备鉴定 IEEE 317标准 型式试验
  • 简介:本文描述了用于测定中子、γ辐射墙中中子、γ辐射吸收剂量或比释动能双剂量计γ辐射校准,并测定了各项修正因子,给出了剂量计校准因子其不确定度为1.4%,并校准了BIM提供传递仪器,进行了比对,其结果相差小于1.0%。

  • 标签: 双剂量计 校准 比对 组织等效
  • 简介:介绍了六西格玛管理在核工业应用,通过理论分析和实践总结,对在核工业系统推广应用六西格玛管理进行了探讨并提出了建议,为核工业系统开展六西格玛管理提供参考。

  • 标签: 六西格玛 核工业 应用
  • 简介:本文主要利用X射线衍射技术研究由直流/射频磁控溅射方法制备PbZr0.53Ti0.47O3(PZT)/La1.85Sr0.15CuO4(LSCO)集成薄膜界面和表面的微结构,从而给出它界面和表面的均方根粗糙度,有效晶粒尺寸,应变大小,用计算反射率方法对小角衍射曲线做理论模拟,从我们实验结果可见,当所制备铁电/超导薄膜PZT层厚度从48.7nm到996.0nm变化而LSCO层保持1000?不变时,PZT与LSCO应变状态不同,相差近一个数量级,同时PZT层表面的均方根粗糙度略有增加,本报告对实验结果作了初步讨论。

  • 标签: 薄膜 集成器件 X射线衍射 微结构
  • 简介:当散射体系中除散射体外还存在微电子密度起伏时,实测散射强度将形成对Porod定理正偏离,从而使散射体散射失真。提出了一种在长狭缝准直条件下应用模糊强度校正正偏离方法:作出ln[q^3I^-(q)]-q^2曲线,用公式n[q^3I(q)]=InK'+σ^2q^2拟合大波矢区直线,求出斜率σ^2,作出ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2-q^2曲线即为无偏离Porod曲线,由此曲线再还原出无偏离散射强度,即I^-'(q)=exp{ln[q^3I^-(q)]-σ^2q^2}/q^3,再以醇热法合成介孔氧化锆粉体为例进行了讨论。

  • 标签: 小角X射线散射 Porod定理 正偏离 校正 介孔氧化锆粉体 醇热法