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2 个结果
  • 简介:AnanalysistechniquecombiningRBSwithPIXEtechnologybyx-particlesincidentbeamwasconstructedandappliedtoanalyselightimpuritiesinheaviersubstrates.ItcanruninmeasuringRutherfordbackscatteringandX-rayspectrainrandomandchannelingmode,simultaneously.Beingusedtoanalysesulphuratomsim-plantedintoGaAssinglecrystals,thismethodisrelativelysimpleandquick-operating.Itisespeciallyusefulforanalysinglightimpuritiesinsemiconductorcompounds,optoelectronicandmicrowavematerials.

  • 标签: RBS PIXE CHANNELING mode ION IMPLANTATION
  • 简介:为了确定北京师范大学低能核物理研究所PIXE分析的准确度和精密度,北京师范大学和日本京都大学、美国元素分析公司3个PIXE实验室开展了30个单元素样品,1个多元素样品的横向比对。对于绝大多数样品,3个实验室的一致性好于10%,3次测量的重复性好于6%。

  • 标签: 横向 日本京都大学 分析技术 单元 元素分析 重复性