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  • 简介:摘要本文对比分析了GaN器件,CoolMOS和SiC二极管的开关损耗,并将图腾PFC和市场主流的H桥PFC进行对比研究。通过两台实验样机研究了GaN器件直接替换CoolMOS后的效率改善,也对比了两种拓扑都使用GaN器件的效率差异,对现有GaN器件的整体性能进行了评估。最后,都使用工频整流对两种PFC拓扑的效率提升空间进行了探索。

  • 标签: GaN,图腾,H桥,PFC,反向恢复,开关损耗,效率