简介:摘要:本文旨在探讨纳米材料在扫描电子显微镜(SEM)下的分析技术。首先,论文概述了纳米材料的基本特性及其在现代科学和技术领域的重要性,强调了SEM在纳米材料表征中的关键作用。接着,详细介绍了纳米材料样品的制备技术、SEM的工作原理以及其在纳米材料形貌、结构和成分分析中的应用。通过两个具体的分析实例——金属纳米颗粒和纳米复合材料,展示了SEM在纳米材料研究中的实际应用和优势。最后,总结了纳米材料SEM分析的优势与局限性,并对未来纳米材料SEM分析技术的发展趋势和潜在应用进行了展望。
简介:摘要:显微镜是人类研究客观世界的眼睛,其中,透射电子显微镜( transmission electron microscopy,简称 TEM)是应用最广泛的、具有纳米级别表征能力的显微镜,常用于生物、半导体、材料学领域。 TEM技术发展涉及电子腔、电磁透镜、 HRTEM、 STEM等方面,近些年来球差矫正技术的发展使得 TEM的分辨率提升了一个数量级。而本文针对 TEM样品杆专利技术的发展进行了梳理,是因为样品杆是 TEM观测中用于承载样品,实现特殊观测需求(如原位观测,力学、热学、电学测试)的重要部件,价格昂贵,有的原位样品杆的价格甚至占到 TEM整体价格的一半,并且国内 TEM样品杆技术有一定的技术积累。因此本文首先阐述了全球发展趋势以及在各国的分布情况,介绍了几个重要申请人的专利申请情况,其次对专利技术发展路线进行梳理总结。通过上述分析研究,以期为相关领域的专利审查提供参考。
简介:摘要:近年来,激光聚焦技术已成为现代科学的重要技术工具,在等离子体物理学、分子生物学、发展生物学、神经科学、药学、遗传学和环境科学等领域得到广泛应用。本文阐述并分析了STEM技术的原理及其在广西药物研究领域的应用。
简介:摘要:电子元器件失效分析是通过对失效件的解剖、观察、分析研究,找出失效机理,查明造成失效件故障的根本原因,进而提出电子元器件改进措施,提高产品的良品率及可靠性。在电子元器件的设计、生产、测试以及应用等环节中,都离不开失效分析。随着电子元器件功能的多样化,外观的微型化,对于电子元器件失效分析能力的要求越来越高,如何对失效位置进行准确的定位成为失效分析的关键所在[1]。
简介:超快透射电子显微镜(UltrafastTransmissionElectronMicroscopy,UTEM)是一种能够以纳米尺度空间分辨研究超快动力学过程的前沿技术。在哥廷根大学最新的研究进展里,建造了第一台具有高度相干性电子源的第三代UTEM。通过从纳米针尖发射局域的光电子,获得高度相干的电子脉冲,能够在样品处将电子斑聚焦到数个纳米,同时具有300fs的脉冲时间宽度。介绍了利用这种先进电子光源UTEM装置的几个应用:对坡莫合金薄膜的磁涡旋纳米图案进行实空间洛伦兹成像,打开应用UTEM进行超快磁性研究的大门;通过将电子脉冲聚焦到数个纳米,我们局域地探测单晶石墨薄膜上飞秒激光激发的声学声子在边缘的传播和演化;演示了自由传播电子束在激光驱动的近场中受光学相位调制产生的电子动量态相干叠加。