简介:利用双晶单色器和精密二圆衍射仪,在北京同步辐射装置建立了同步辐射X射线驻波实验技术,并用这一实验技术结合X射线衍射方法,研究了Si晶体中外延生长的超薄Ge原子层的微结构。实验结果表明,由于Ge原子的偏析,在Si晶体样品中形成了共格生长的GexSi1-x合金层,浓度平均值为X=0.13;650℃退火会使Ge原子向表面扩散,Si晶体中的合金层消失,在晶体表面形成接近纯Ge的单原子层。
简介:
简介:文章对某单位的锆复合板反应器设备泄漏原因进行了分析,先后采用两种方法进行泄露修补。对比两次不同的返修方法,认为对安全运行多年的设备,其结构和应力分布已经固化,如果有泄漏,漏点不会很大,但因为设备冷态检查与最终使用工况有较大区别,返修完成前后应模拟工况进行热试,这样才能彻底找到漏点,一次性返修好。对这台设备的返修总结,为类似使用多年的设备返修提供经验。
简介:采用XAFS研究了不同方法制备的钛硅复合氧化物材料的钛K边结构,其结果表明,二氧化钛与二氧化硅复合后,钛原子配位数由原来的六配位降低到3—4配位,不同二氧化钛含量样品的径向结构函数及近边曲线都有不同,说明经过复合后二氧化钛结构发生改变,并且二氧化钛含量对复合材料的结构影响很大。
简介:可靠性是当今人们对所使用的产品密切关注的问题,可靠性指标与产品性能指标同等重要。本文从锆钢复合板的特性出发,通过对锆钢复合板容器焊缝连接装置存在的故障进行分析,确立了一套合理可靠的复合板焊缝连接结构,并对各结构进行了一系列可靠性检测试验,确保了锆钢复合板容器在使用过程中的安全可靠性。
同步辐射X射线驻波实验技术研究半导体超薄异质外延层
Bi2.13Sr1.87CuO6+δ超导体中的两维调制结构
锆复合板反应器返修实践浅析
钛硅复合氧化物材料的XAFS研究
锆钢复合板容器焊缝连接装置的可靠性研究