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  • 简介:1.会用物理学术语描述光的反射现象,初步理解光的反射规律,了解平面镜成像的原理,能够区别镜面反射和漫反射,了解光的反射现象在生活、生产中的具体运用.2.经历反射定律的探究过程,进一步提高科学探究的能力.

  • 标签: 反射现象 平面镜成像 镜面反射 反射定律 科学探究 物理学
  • 简介:以菲涅尔公式为基础,推导得出物质反射率与交界的两种介质相对折射率的关系,并用Origin软件进行数值模拟,很好地解释了光反射中的一种实验现象。

  • 标签: 菲涅尔公式 反射率 相对折射率
  • 简介:在导师的指导下,参加了导航研究中有关卡塞格伦天线应用的实验工作。根据高教部改进和更新实验的要求,拟将天线中激光的双反射镜实验引入物理教学作为物理实验课的内容改革之一。这个实验可以取代以几何光学为基础的透镜实验。按其要求可以作为综合物理实验或中级物理实验。为此,将我们参加激光双反射镜的实验,根据实验的教学要求写成此文,以供物理实验改革的参考和应用。

  • 标签: 双反射镜实验 卡塞格伦天线 物理教学 透镜实验 课程改革 高斯光束
  • 简介:介绍一个超声波反射式液位计。给出发射电路、接收电路、计数电路和显示电路等的设计

  • 标签: 液位计 超声波 电子测量
  • 简介:测量长距离反射镜的曲率半径,不论是在验证近轴光线球面镜的成象公式还是在实践上都有很重要的意义。但是如果反射镜表面的曲率半径R>5m时,验证和测量都是相当复杂的问题。本文给出了一种很简便的测定R的方法,在曲率半径是10m左右时的测量误差是1%。

  • 标签: 反射球面镜 曲率半径 误差
  • 简介:对空间目标实现红外探测建模仿真时,需要对空间目标在空间环境下的热温度场进行分析和模拟计算,计算的边界条件之一是目标表面材料热特性参数。以往的做法是通过相关资料中提取这些参数,但都是理论值,实际材料的热特性与目标生产工艺有关,可能与理论值有很大的差别,采用这些数据会对空间目标在轨热分析的模拟计算中产生误差甚至错误。

  • 标签: 空间目标 表面材料 反射率 热特性参数 测量 模拟计算
  • 简介:利用反射式太赫兹时域光谱技术测量了花岗岩的时域谱,通过提取时域谱极值得到了花岗岩的反射式光谱成像图。结果表明,花岗岩中不同测试点的成分不同,反射式太赫兹光谱也不同,该结果可以与扫描电子显微镜的微观形貌及成分分析的结果相互印证。因此,利用反射式太赫兹光谱技术可直接鉴别花岗岩中的矿物成分及其分市。该方法为花岗岩的岩识别提供了快速的表征方法与技术支持。

  • 标签: 花岗岩 反射式太赫兹光谱 成分鉴别
  • 简介:针对表面高度均方根(RMS)难以描述大尺度波动以及刚体位移鲁棒差的缺点,提出了使用功率谱(PSD)对大口径望远镜系统中主反射镜面形进行评价;结合Zernike多项式,对PSD的分解运算进行了分析,讨论了Zernike多项式的频谱能量分布;将该方法用于Φ500mm反射镜面形检测数据的处理,得出实际反射镜表面面形频域能量分布情况。结果表明:对于大口径反射镜,使用PSD的评价方式对于指导加工检测以及望远镜系统误差的分配具有更实用的意义。最后,基于PSD提出了一种评价反射镜面形的子孔径非相关拼接方法,该方法适用于大口径望远镜中大口径光学元件的面形精度评价。

  • 标签: 表面面形评价 反射镜 大口径 功率谱 ZERNIKE多项式 子孔径拼接
  • 简介:时域反射测量技术(TimeDomainReflectmetry,TDR)是在高速脉冲技术迅速发展的基础上出现的一种先进的测量技术。通过对传输系统发出高速脉冲信号,接收器接收其反射信号,据此可分析判断传输系统的阻抗特性,判断出多个不连续点的位置、性质和大小。其原理如图1所示。

  • 标签: 时域反射 测试方法 测试系统 电缆 DOMAIN 测量技术
  • 简介:“任意反射面的速度干涉仪”VISAR(VelocityInterferometerSystemforAnyReflector)技术,已成为诊断冲击作用下样品自由面速度剖面或粒子速度剖面的主要技术。其主要优点在于能够对高速度、高加速度运动事件进行非接触的连续测试。

  • 标签: 速度干涉仪 反射面 干涉系统 应用 光纤 速度剖面
  • 简介:条纹反射法是一种结构简单的三维面形检测手段,本文对该方法在智能手机、平板等移动设备中的集成和应用进行了研究。首先,对条纹反射法标定误差以及智能设备的特点进行了分析。然后,在分析实际检测中的关键误差基础上,提出了通过相机非线性定标、改善相移算法、格点位置标定、应对相机自动增益调整等一系列方法和算法,在设备现有硬件条件下提高了测量精度和稳定性;最后,使用iPadAir对直径为105mm的SiC反射面进行了实验。结果表明,标定精度在毫米量级时,对反射面的检测精度RMS值达到33μm,并且以低频误差为主,在局部高频区域检测结果有明显优势,证实了在不使用其他外部设备前提下,集成于智能平板的条纹反射法具备几十微米量级精度的检测能力。

  • 标签: 面形测量 光学检测 条纹反射 智能设备
  • 简介:通过对抛物面赋形,设计了一种馈源固定不动、反射面俯仰方向可旋转扫描0°~10°,增益平坦度优于0.5dB的偏馈反射面天线。首先,选取抛物面上采样点作为初始数据点,进行三次样条函数插值构成初始反射面;其次,利用Matlab的Fminunc函数对插值数据点进行调整,采用几何光学法计算射线平均光程差,并用其方差最小实现优化,确定赋形反射面的形状;最后,通过电磁仿真软件计算验证了赋形天线的电性能指标。设计的反射面天线系统工作频率为9.7GHz,反射面焦距为6.8m、口径为5m、偏置高度为0.2m,馈源为20dB标准增益喇叭。计算结果显示,赋形后天线增益平坦度由1.07dB优化到0.46dB。

  • 标签: 反射面天线 赋形设计 光程差 增益平坦度
  • 简介:传统的前馈式抛物面天线辐射方式,存在馈线较长、不能沿天线轴线摆放馈线以及不方便天线旋转等缺点。随着天线口径的增大,这些不足之处对天线性能的影响越来越大,因此有必要研究采用双反射面方式实现超宽带高功率微波辐射。

  • 标签: 高功率微波 辐射天线 超宽带 反射面 天线辐射 天线口径
  • 简介:为系统分析典型材料的中子屏蔽性能,指导射线屏蔽防护设计,采用蒙特卡罗方法计算了不同厚度的聚乙烯、含硼聚乙烯、铁及普通混凝土对不同能量中子的反射因数、透射因数及吸收因数。结果表明,中子反射因数和吸收因数均随屏蔽体厚度的增大而增大,当屏蔽体厚度增加到一定值时,中子反射因数和吸收因数均趋于饱和。中子饱和反射因数主要受中子截面随能量的变化规律影响,中子总截面随能量减小而增大的屏蔽材料,其饱和反射因数较小,聚乙烯、普通混凝土和铁对1MeV中子的饱和反射因数分别为41.0%,71.3%和84.3%;屏蔽材料的中子饱和反射厚度与中子在屏蔽材料中自由程的比值,随中子饱和吸收因数的增大而减小。

  • 标签: 中子屏蔽 反射因数 吸收因数 透射因数 蒙特卡罗模拟
  • 简介:本文指出了目前迈克尔逊干涉仪的调节方法只能实现两反射镜相互垂直,但无法确定可移动反射镜与其移动方向垂直的问题.通过研究,我们给出了一种实现两反射镜相互垂直且可移动反射镜与其移动方向垂直的调节方法.

  • 标签: 迈克尔逊干涉仪 反射面 调节
  • 简介:介绍了大口径球面反射镜曲率半径的传统测量方法,提出了利用组合测杆结合激光干涉仪测量球面反射镜曲率半径的新方法。首先利用激光干涉仪检测球面反射镜的面型,调整干涉仪与被测镜的位置,使被测镜达到零条纹干涉状态,然后架设合理长度组合测杆,调整组合测杆靠近干涉仪端测量球头的位置,使之达到零条纹干涉状态,再使组合测杆另一端测头与镜面接触完成测量,通过计算分析即可得到被测球面镜的曲率半径。对该方法的基本测量原理进行了研究分析,并对口径为600mm的望远镜球面主镜的曲率半径进行了多次测量,测得其曲率半径均值为2836.774mm,标准偏差为0.071mm。最后对该方法的测量不确定度进行了分析,找出了影响测量精度的主要因素,合成标准不确定度为0.061mm。

  • 标签: 光学测量 球面反射镜 曲率半径 组合测杆 大口径
  • 简介:用X射线反射方法研究了分子束外延技术生长的Si中Ge薄层异质结构的Ge原子分布特性.根据X射线反射理论及Parratt数值计算方法对实验反射曲线的模拟,得到不同厚度的Ge薄层异质结构样品中Ge原子的深度分布为非对称指数形式:在靠近样品表面一侧的衰减长度为8埃,而在靠近样品衬底一侧的衰减长度为3埃,且分布形式与Ge原子层的厚度无关。讨论了不同结构参数(Ge原子薄层的深度、Ce原子分布范围、样品表面粗糙度、样品表面氧化层厚度等)对样品低角反射曲线的影响.

  • 标签: 同步辐射X射线反射法 薄层异质结构 Ge 半导体材料 表面偏析
  • 简介:为了研究喷砂铝板表面的漫反射特性,基于环形光电探测器阵列和精密光学转台,设计了一种材料表面漫反射特性测量装置。该装置采用准直后的光纤激光作为光源,通过调整光学转台来调整激光入射角度,可以测量激光从不同角度入射时材料表面的反射特性。采用该装置对标准漫反射片的反射特性进行了测试,对测量结果进行拟合后显示,表面散射光的1维强度分布符合余弦分布特征,证明该装置设计是合理的。采用该装置测量了某种铝制漫反射片的表面反射特性。结果表明,这种采用喷砂工艺处理的铝板表面在入射角0°~20°范围内基本符合漫反射的特征。

  • 标签: 测量装置 漫反射特性 环形光电探测器阵列
  • 简介:在L,(1≤P〈∞)空间研究了板几何中一类带反射边界条件具各向异性、连续能量、均匀介质迁移算子的谱,证明了该迁移算子生成C0半群的Dyson—Phillips展开式的二阶余项在LP(1〈P〈∞)(L1)空间中是紧(弱紧)的,从而得到了该迁移算子的占优本征值的存在等结果.

  • 标签: 迁移算子 C0半群 二阶余项 占优本征值