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11 个结果
  • 简介:高能闪光照相中散射辐射严重影响信息的提取。后保护系统(后锥)是散射的最主要来源,这一结论已被实验和数值模拟所证明。虽然利用X射线输运的MC计算程序可以给出散射分布,但在高散射情况下程序计算结果的正确性和可靠性必须经实验的检验。

  • 标签: 高能闪光照相 散射辐射 计算程序 保护系统 数值模拟 散射分布
  • 简介:含FTO的闪光照相系统中,FTO是由一组同心球层组成的静态高密度客体,其动态量程高达4480。后锥的使用会大大降低系统的直散比DSR,并且散射空间分布的不均匀性也很严重。

  • 标签: 闪光照相系统 Monte-Carlo FTO 客体 直散比DSR 不均匀性
  • 简介:X光穿透物质时符合指数衰减规律,原则上,给定闪光照相光源能谱以及照相物质已知的情况下,可以计算出透射X光的照射量,但事实上X光光源能谱测量十分困难,因此,实际上照射量的计算无法实现。所谓的“等效单能模型”就是将上述全能谱照射量等效成某一“单能”的照射量,在实际实验测量中经常需要的物理量是数种材料等效质量吸收系数的比值,称之为相对质量吸收系数,一般情况下,

  • 标签: 质量吸收系数 闪光照相 能谱测量 照射量 衰减规律 实验测量
  • 简介:在日本,所有的学生直到第十二年级,都必须购买他们所在学校学习的各门教科书。对于小学生(从一年级到六年级),由教育部(MOE)购买教科书免费分发给他们。许多出版公司出版了多种版本的教科书,例如,七家出版公司新出版了教学计划规定学科之一的十种不同版本的高中《物理学1B》教科书。

  • 标签: 教科书 出版 教育部 六年级 教学计划 学校
  • 简介:小工具数控抛光技术已成为ICF大口径光学元件制造的主工艺技术,由于这种工艺技术使用了比被加工元件外形尺寸小得多的抛光磨头来进行加工,所以被加工表面将呈现出不同于传统方法加工表面的特征。与传统抛光技术相比,被加工表面的某些频率成分可能增加,可能会对光学系统带来不良的影响。

  • 标签: 数控加工工艺 大口径光学元件 调制度 抛光技术 加工表面 传统方法
  • 简介:在简要分析水利综合经营作用的基础上,针对水利综合经营工作中存在的主要问题,对建立现代企业制度,发展水利综合经营这一问题进行了分析探讨。

  • 标签: 水利产业 综合经营 现代企业制度 知识经济