学科分类
/ 1
7 个结果
  • 简介:将四戊氧基酞菁锌的甲苯溶液旋涂成膜,经光学显微镜观察,薄膜表面光滑连续,小角度X射线衍射谱图中有规律的Keissig干涉峰说明膜厚均匀,红外反向光谱显示,未加热的薄膜中的分子排列无序,于150℃退火后,分子发生了共面聚集以接近垂直的角度直立在基片表面上,X射线衍射实验进一步证实了薄膜结构的有序性,并测定出了1.74A的晶面间距。

  • 标签: 四新戊氧基酞菁锌 旋涂膜 结构 分子取向 红外反向光谱
  • 简介:本文扼要介绍了光束线真空控制保护系统的设计思想、设计要求、系统的作用和某些改进。此外,系统在设计了上采用了新技术-可编程序控制器(PLC),使控制系统的可靠性和灵活性得到了进一步的提高。研制这个系统的主要目的是,当光束线上出现(由铍窗或波纹管等偶然破裂引起的)灾难性真空事故时,能够有效地保护北京正负电子对撞机中的大型超高真空装置-电子储存环的真空系统不会遭到这种灾难的破坏,使其安全运行。本光束线的真空控制保护系统于1996年投入试运行,于1998年年底通过院级鉴定和验收。

  • 标签: BSRF 3W1光束线 真空控制保护系统 储存环
  • 简介:本文向用户扼要介绍了光束线3W1A及其实验站的辐射安全联锁系统的设计目的、设计思想、系统的功能作用和操作规则。本系统于1996年9月投入试运行,于1998年年底通过院级鉴定和验收。

  • 标签: BSRF 实验站 辐射安全联锁系统 储存环 3W1A光束线
  • 简介:同步辐射软X射线(白光)对InP表现进行了辐照。并对样品的表面电子结构作了UPS和XPS分析。结果显示,样品表面电子态变化明显,P3a峰化学位移大于In4d峰。与In非键合的P2p峰面积辐照后显著增加。说明软X射线对InP表现F原子的电离损伤要大于In原子。

  • 标签: 软X射线 INP 表面微结构 磷化铟 半导体 电离损伤
  • 简介:本文测定了在高压条件两种金属(钙和锌)的8-羟基喹啉络合物的晶体粉末样品的发光行为和原位x-光衍射光说。结果表明,压力对其发光性质产生极大的影响。随着压力的增加,8-羟基喹啉钙的发光强度在3GPa以内时大大增加。随后发光强度快速下降,到7GPa左右时几乎为零。而8-羟基喹啉锌的发光随压力的增加而逐渐降低,到7GPa左右时常压的10%。高压下的原位x-光衍射结果表明8-羟基喹啉钙的晶体在3-4GPa开始发生非晶化相变,在7GPa时该非晶化相变完成,样品的x-光衍射完全消失。而8-羟基喹啉锌在压力的作用(至16GPa)没有发生明显的相变。

  • 标签: 高压条件 金属8-羟喹啉络合物 发光行为 晶体结构