简介:在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X-射线在样品表面激发出的电子产额随X-射线能量的变化,提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明,在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单,可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立,有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
简介:
简介:用不同束斑的SRXRF微不,对1个土壤成分分析标准物质和1个岩石成分分析标准物质进行了多点测量,通过样品缓慢移动,在2个土壤成分分析标准物质和2个岩名成分分析标准物质上分别选取2—3个高度为5mm的小区,进行扫描测量。结果表明,不论SRXRF微束束斑大小,标准参考物的均匀性都不是很好;在目前没有微束分析用的标准参考物的情况下,采用多区域扫描测量的方法,现有的标准参考物作质量控制是可行的。
简介:用微米束同步辐射X射线荧光法(μ-SRXRF)对国际原子能机构(IAEA)研制的可用于核技术微量分析的两种固体微量生物标准参考物地衣IAEA-338和海藻IAEA-413样品中的各种微量元素进行了检测,并对这种标准参考物的均匀性进行了检验。结果表明:这两种微量固体生物标准参考物的均匀度达到了预定指标。
简介:用同步辐射角分辨紫外光电子谱对CO与Cs在Ru(1010)面上共吸附的研究结果表明:由于Cs的强烈影响,CO的分子轨道重新排列。对应清洁表面上CO分子的(5σ+1π)轨道的7.5eV谱峰分裂成两个,分别处于6.3和7.8eV,6.3eV谱峰关于一个垂直于Ru(1010)面面平行于<0001>晶向的镜像面反对称性。
简介:用同步辐射角分辨偏上光电子谱对K/Ru(101^-0)表面上吸附的CO分子轨道的对称性测量发现:结合能在11.2eV的CO-4α1(4σ)分子轨道对s偏振光(在沿<12^-10>的入射面)是禁戒的。结果表明由于K的强烈影响,CO的分子轨道重新排列(sp^2杂化)。根据选择定则和分子轨道的对称性说明,sp^2再杂化的CO分子吸附的桥位取向是<12^-10>晶向。
测量XAFS谱的全电子产额技术
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
标淮参考物均匀性的SRXRF研究
IAEA微量生物标准参考物的均匀性研究
IAEA微量生物标准参考物均匀性的SRXRF分析
用ARUPS研究在Cs/Ru(1010)面上的CO分子轨道对称性
K/Ru(101^—0)表面上的CO—4α1轨道对称性确定