简介：
简介：测量了C60单晶[111]方向的同步辐射角分辨光电子谱。观察到HOMO能带和HOMO－1能带明显且有规律的色散。色散曲线与LDA理论结果符合得较好。
简介：在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X－射线在样品表面激发出的电子产额随X－射线能量的变化，提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明，在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单，可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立，有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
简介：用XPS和PES研究了钙肽矿型氧化物BaTiO3薄膜和La1-xSnxMnO3薄膜的电子结构。特别地，我们采用角分辨X－射线光电子谱技术（ARXPS），研究了薄膜表面最顶层原子种类和排列状况。结果表明，BaTiO3薄膜表面最顶层TiO2原子平面，La1-xSnxMnO3薄膜的表面最顶层为MnO2原子平面。在此基础上，我们进一步在原子水平上探讨了薄膜的层状外延生长机理。
简介：测量了C60单晶（111）解理面法向发射的角分辨光电子谱。利用同步辐射光源研究了对应于分子轨道HOMO及HOMO－1的能带的色散关系。实验观察到HOMO和HOMO－1能带在Г－L方向存在明显的色散，最大色散分别为0.27eV和0.42eV色散曲线与理论电子结构基本符合。
北京正负电子对撞机00—01年度运行
北京正负电子对撞机国家实验室 2002年度同步辐射装置用户科技论文奖励情况
C60单晶电子结构的同步辐射光电子谱研究
1999—2000年度用光情况总结
1999—2002年度重点用户课题支持情况表
测量XAFS谱的全电子产额技术
北京慢正电子强束流系统
用成像板探测正电子实验
BEPC／BSRF储存环1999—2000年度运行情况
1997、1998年度北京同步辐射装置用户结束课题情况
北京同步辐射装置2001、2002年度用户课题及实验情况
北京同步辐射装置2001-2002年度运行情况总结
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
^22Na低能单色正电子束流装置
2000—2001年度北京同步辐射装置开放运行情况汇报
北京同步辐射装置—北京正负电子对撞机概况
钙钛矿型氧化物薄膜电子结构的XPS研究
北京自由电子激光装置的现状及未来发展计划
C60单晶价带色散的同步辐射光电子谱研究
2002年度北京同步辐射装置结束的用户课题一览表
