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  • 简介:本文测定了高压条件下金属(钙和锌)8-羟基喹啉络合物晶体粉末样品发光行为和原位x-光衍射光说。结果表明,压力对其发光性质产生极大影响。随着压力增加,8-羟基喹啉钙发光强度3GPa以内时大大增加。随后发光强度快速下降,到7GPa左右时几乎为零。而8-羟基喹啉锌发光随压力增加而逐渐降低,到7GPa左右时常压10%。高压下原位x-光衍射结果表明8-羟基喹啉钙晶体3-4GPa开始发生非晶化相变,7GPa时该非晶化相变完成,样品x-光衍射完全消失。而8-羟基喹啉锌压力作用下(至16GPa)没有发生明显相变。

  • 标签: 高压条件 金属8-羟喹啉络合物 发光行为 晶体结构
  • 简介:通过原位浸渍法把FeSO4和其它助剂共同浸渍烟煤上,考察了以FeSO4为主要前驱体催化剂对这两种煤直接液化活性选择性,以及其对液化产物-甲苯可溶物分子量影响作用,并通过EXAFS和SAXS表征揭示了催化剂煤上化学态和粒径分布,结果表明:一定反应条件下,FeSO4和助剂分别共浸渍煤上时,煤总转化率及沥青烯和轻质产物产率均比不添加催化剂时结果提高1倍左右,硫化物相比,以FeSO4为主要前驱体催化剂沥青烯和轻质产物具有较高选择性,生成重质甲苯可溶物具有较大分子量;EXAFS和SAXS表明,原位浸渍煤上FeSO4表现为纳米相,助剂Na2S和尿素添加主要改变了Fe原子周围配位原子种类以及它们成键方式,而对其颗粒分布影响较小,催化剂汾西煤上分布较其兖州煤上差一些。

  • 标签: 硫酸亚铁基催化剂 烟煤液化 实验
  • 简介:采用金刚石对顶压砧高压装置(DAC)、同步辐射X光源和能散法,对CsBr粉末样品进行了原位高压X光衍射实验,最高压力115GPa。观测到53GPa左右压力下,CsBr最强衍射峰(110)劈裂成个峰,标志简单立方结构向四方结构转变;0至最高压力范围内(相应于V/V0为1至0.463)测量了晶轴比c/a;115GPa内未观测到样品金属化现象。

  • 标签: 结构 相变 CsBr 同步辐射 X射线衍射 溴化铯
  • 简介:采用X-射线吸收近边结构(XANES)和扩展X-射线吸收精细结构(EXAFS)技术,对用不同原料盐和不同焙烧温度制得Co/γ-Al2O3催化剂中钴微观结构进行了详细表征。XANES结果表明,以硝酸盐为原料盐于500℃焙烧样品Co(N)-500,其Co-K边近边结构标样Co3O4相似,而其它样近边结构标样CoAl2O4相似。随焙烧温度提高。吸收边前弱吸收峰(1s→3d)逐渐增强。吸收阈值处,主吸收峰(1s→4p)分裂变得更明显,950℃焙烧样品,主吸收峰上升过程中出现了肩峰(1s→4s)。这些特征表明,样品中钴主要以Co^2+离子形式存在。钴离子载体作用加强,使非化学计量尖晶石相在结构化学计量CoAl2O4越来越接近。EXAFS结果表明,样品Co(N)-500中,钴主要以Co3O4形式存在。其第一配位壳层Co-O配位数明显低于标样Co3O4,说明该相具有较高分散性。其它所有样品中,钴主要以非化学计量尖晶石相存在,其第一配位壳层Co-O配位数随焙烧温度从500℃提高到950℃,标样CoAl2O4越来越接近;相同焙烧温度下,从醋酸钴制得Co(A)系列样品更容易形成Co-Al尖晶石相。XANES和EXAFS结果很好地说明了前文中样品对CO氧化和乙烯选择还原NO反应活性规律。

  • 标签: 氧化态 反应性能 微观结构 Co/γ-Al2O3催化剂 XANES EXAFS
  • 简介:将四戊氧基酞菁锌甲苯溶液旋涂成膜,经光学显微镜观察,薄膜表面光滑连续,小角度X射线衍射谱图中有规律Keissig干涉峰说明膜厚均匀,红外反向光谱显示,未加热薄膜中分子排列无序,于150℃退火后,分子发生了共面聚集以接近垂直角度直立基片表面上,X射线衍射实验进一步证实了薄膜结构有序性,并测定出了1.74A晶面间距。

  • 标签: 四新戊氧基酞菁锌 旋涂膜 结构 分子取向 红外反向光谱
  • 简介:本文描述了GdB5O9、NaGdF4合成结构以及NaGdF4高温下相转变。粉末衍射数据表明GdB5O9属于四方晶系,其空间群为:I4l/acd,晶胞参数为:α=8.23813。c=33.6377。六方和立方NaGdF4分别NaEuF4和CaF2同构。本文还考察了GdB5O9:Eu、六方NaGdF4:Eu、立方NaGdF4:Eu样品真空紫外(VUV)荧光性质.上述三样品中Gd3+4f-5d跃迁及基质吸收位于真空紫外波段。

  • 标签: 稀土硼酸盐 氟化物 结构 VUV荧光性质 粉末衍射 晶胞
  • 简介:用磁控溅射方法制备了一系列[C(t)/Cu(2.04nm))In(n=20,30)周期多层膜,利用四端点法、振动样品磁强计研究了多层膜电磁性质,样品磁电阻随钴亚层厚度增大有一最佳值t=1.2nm。利用同步辐射掠入射X射线散射(衍射)技术不同X射线能量下研究了耦合多层腹界面结构,探索了耦合多层膜中磁电阻增强可能原因。

  • 标签: n周期多层膜 结构 巨磁电阻 磁控溅射 同步辐射掠入射X射线散射
  • 简介:利用电子衍射,X射线衍射和荧光光谱等方法研究了LnBaB0O16(Ln=La,Y)结构特性,LnBaB9O16为单斜晶系,其中LaBaB9O16晶胞参数a=1.3660nm,b=0.7882nm,c=1.6253nm,β=106.15°,YBaB9O16晶胞参数a=1.3476nm,b=0.776nm,c=1.6040nm,β=106.38°,荧光光谱研究表明,这两种化合物结构不同,Y^3+YBaB9O16结构中处于中心对称格位,而LaBaB9O16中La^3+格位则无中心对称性,Gd^3+部分取代LaBaB9O16:Eu^3+中La^3+可改善Eu^3+离子发光性质,LaBaB9O16:Eu^3+真空紫外区吸收比较弱,这可能与硼氧比较小有关。

  • 标签: 荧光基质材料 硼酸盐 X射线衍射 实验
  • 简介:本文采用溶胶-凝胶法,获得了铁掺杂纳米TiO2样品,XRD和透射电镜测量表明600℃以下焙烧时为锐钛矿,颗粒度10nm以下,样品1000℃下焙烧时,转变为金红石相,颖粒度增大。EXAPS和穆谱表明,铁的确掺杂到TiO2晶格内,表现为3价。铁掺杂改变了纯TiO2性质,对于锐铁矿相掺铁纳米TiO2,其紫外-可见反射光谱给出在481nm处出观了吸收峰,;对于以金红石相为主掺铁纳米TiO2,其紫外-可见反射光谱在512nm处出现了吸收峰。

  • 标签: FE 纳米Ti02 结构 二氧化钛 掺杂
  • 简介:通过合成镧叶绿素a(La-Chla),研究稀土叶绿素中赋存状态。La-Chla紫外可见光谱(UV-vis)、红外光谱(FT-IR)证实,镧离子已配位到叶绿素a卟啉环上。其磁圆二色谱(MCD)Soret带具有双层夹心卟啉结构特征结构。通过扩展X射线吸收精细结构谱(EXAFS),采用双层夹心结构模型拟合,确定La周围近邻结构,取得满意结果。表明合成镧叶绿素a具有双层夹心结构,La夹于个卟啉环之间,上下卟啉环上共八个N原子配位,La-N平均键长0.261nm。

  • 标签: 稀土 配位结构 双层夹心分子结构 镧叶绿素a EXAFS MCD
  • 简介:利用Triton和高盐处理制备菠菜光合系统ⅠⅠ(PSⅠⅠ)-La复合物,并应用EXAFS技术研究了该复合物中稀土镧局域结构。初步结果表明,镧PSⅠⅠ中O或N原子配位,配位数为8,距离为2.5A左右;第二层配位原子是C,其作用距离为3.5A左右,配位数为4;LaMn作用距离4.5A,大于CaMn距离3.5A。由此推测镧PSⅠⅠ结合后,改变了其空间结构

  • 标签: 菠菜 PSⅠⅠ 局域结构 EXAFS 生理效应
  • 简介:用EXAFS方法研究了重金属Zn(Ⅱ)δ-MnO2上吸附微观结构及吸附机制。pH5.50,0.1M硝酸钠介质中,吸附-解吸实验表明Zn(Ⅱ)δ-MnO2上吸附可逆性很高.EXAFS结果表明,δ-MnO2表面上吸附态Zn2+以六配位水合离子八面体形式存在。八面体水合Zn^2+离子δ-MnO2结构单元MnO6八面体通过共用O原子结合,形成角-角结合弱吸附.Zn-O平均原子间距为2.071A,Zn-Mn平均原子间距为3.528A。同一条等温线上随着吸附量增加,角-角结合弱吸附形式基本上没有变化。Zn(Ⅱ)δ-MnO2上较高吸附可逆性是由于吸附态Zn(Ⅱ)δ-MnO2以弱吸附角-角形式结合所导致

  • 标签: Zn/δ-MnO2吸附结构 EXAFS 重金属污染 硝酸钠 可逆性 解吸
  • 简介:利用金刚石压砧高压装置(DAC),对Ca3Mn2O7粉末样品进行了高压能散X射线衍射实验。结果表明,由于岩盐层易被压缩,压力作用下层状钙钛矿结构锰氧化物Ca3Mn2O7结构不稳定。0-35GPa压力范围内,Ca3Mo2O7晶体结构发生了次相变。1.3GPa左右,由原来四方相变为正交相,9.5GPa左右,又由正交相向四方相转变。

  • 标签: 层状钙钛矿 结构 锰氧化物 Ca3Mn2O7 相变 同步辐射
  • 简介:选取不同煤化程度煤样并制成600℃和800℃半焦,应用同步辐射小角X射线散射研究了其亚微观孔隙结构得到孔径分布,孔隙率,比表面,分形维数等许多结构参数,这些参数随煤化程度和所制半焦温度不同大都呈现一定变化趋势。

  • 标签: 半焦 孔隙结构 SAXS研究 测试
  • 简介:本文主要利用X射线衍射技术研究由直流/射频磁控溅射方法制备PbZr0.53Ti0.47O3(PZT)/La1.85Sr0.15CuO4(LSCO)集成薄膜界面和表面的微结构,从而给出它界面和表面的均方根粗糙度,有效晶粒尺寸,应变大小,用计算反射率方法对小角衍射曲线做理论模拟,从我们实验结果可见,当所制备铁电/超导薄膜PZT层厚度从48.7nm到996.0nm变化而LSCO层保持1000?不变时,PZTLSCO应变状态不同,相差近一个数量级,同时PZT层表面的均方根粗糙度略有增加,本报告对实验结果作了初步讨论。

  • 标签: 薄膜 集成器件 X射线衍射 微结构