简介：
简介：在北京同步辐射实验室XAFS实验站上建立了利用全电子产额方法探测XAFS的实验方法。通过测量单色X－射线在样品表面激发出的电子产额随X－射线能量的变化，提取在吸收边附近的XAFS震荡。对不同厚度Cu薄膜的测量表明，在Cu的K吸收边附近可观察到信噪比很好的XAFS震荡。该探测器设计简单，可以直接在大气下工作。全电子产额XAFS方法的建立，有助于导电薄膜和材料的近表面结构研究。
PLASMA SCIENCE AND TECHNOLOGY AUTHOR INDEX TO VOLUME 15 （2013）
测量XAFS谱的全电子产额技术
用全电子产额技术测量薄膜材料的XAFS谱
2001年学术活动情况
1999—2000年度用光情况总结
2002年国际合作及学术交流
2001年国际合作和国际学术交流
1999—2002年度重点用户课题支持情况表
2000年北京同步辐射装置用户科技论文集目录
BEPC／BSRF储存环1999—2000年度运行情况
1997、1998年度北京同步辐射装置用户结束课题情况
2002年北京同步辐射装置用户科技论文集目录（上册）
北京同步辐射装置用户2001年科技论文目录（上册）
北京同步辐射装置2001、2002年度用户课题及实验情况
北京同步辐射装置2001-2002年度运行情况总结
北京正负电子对撞机00—01年度运行
2000—2001年度北京同步辐射装置开放运行情况汇报
2002年度北京同步辐射装置结束的用户课题一览表
北京正负电子对撞机国家实验室 2002年度同步辐射装置用户科技论文奖励情况
