简介：自硅芯片问世以来，芯片制造商一直认为芯片越小越好。芯片越小，电子运动的距离越小，运算速度越快。但芯片小到一定程度时，漏电问题就会成为主要矛盾。

简介：中国光学学会光电技术专业委员会和中国仪器仪表学会光机电技术与系统集成分会将于2014年10月下旬在南京联合主办“2014全国光电技术与光机电系统学术会议”。热诚欢迎从事光电技术、光学工程、激光与光电子学和光机电仪器等领域的科学研究人员和工程技术人员参加会议并积极投稿，大会将为每位作者提供学术交流的机会。会议还将邀请工作在科研第一线的院士和知名学者参加会议，并为大家做邀请报告。

简介：中国光学学会光电技术专业委员会和中国仪器仪表学会光机电技术与系统集成分会将于2014年10月下旬在南京联合主办“2014全国光电技术与光机电系统学术会议”。热忱欢迎从事光电技术、光学工程、激光与光电子学和光机电仪器等领域的科学研究人员和工程技术人员参加会议并积极投稿,大会将为每位作者提供学术交流的机会。会议还将邀请工作在科研第一线的院士和知名学者参加会议,并为大家做邀请报告。

简介：<正>2014年6月18~21日,武汉·中国光谷,2014光电子器件与集成(OEDI)国际学术研讨会(OptoelectronicDevicesandIntegration,OEDI)在华中科技大学武汉光电国家实验室(筹)(WNLO)隆重举行。此次国际学术研讨会由武汉光电国家实验室(筹)(WNLO)和美国光学学会(OSA)联合承办,

简介：使用傅里叶变换光谱仪（FTIR）测试甚长波宽波段（6．4～15μm）红外探测器响应光谱的过程中，发现短波方向响应光谱异常。通过分步测试分析发现：探测器和放大器工作在非线性工作区导致某些情况下仪器信号发生饱和，引起了短波方向响应光谱畸变的现象。对FTIR测量甚长波宽波段（6．4～15μm）红外探测器响应光谱的畸变现象进行了分析，认为探测器的响应时间是影响其响应光谱的重要因素，并通过试验确定了测试系统对不同探测器所设置的测试参数，消除了响应光谱畸变的现象，并提高了测试准确度。