简介：阐述了半导体热电致冷器（TEC）的基本工作原理,分析了TEC线性驱动和PWM驱动的原理以及采用PWM驱动的优点,介绍了PID温度补偿控制的原理,并设计了实验.采用相同的测试条件,对MAX1978、ADN8830和线性功率管进行了性能测试,实验数据表明温度控制电路采用PWM驱动功耗更小,全温（-40～60℃）控制效果更好.

简介：Ⅲ族氮化物（又称GaN基）宽禁带半导体属于新兴的第三代半导体体系，在短波长光电子器件和功率电子器件领域具有重大应用价值。过去10多年，以蓝光和白光LED为核心的半导体照明技术和产业飞速发展，形成了对国家经济和人民生活产生显著影响的高技术产业。近年来GaN基功率电子器件受到了学术界和产业界的高度重视，形成了新的研发和产业化热点。首先介绍了半导体照明技术和产业的发展历程和现状，分析了当前GaN基LED芯片技术面临的关键科学和技术问题；然后重点介绍了GaN基微波功率器件和电力电子器件的发展历程和动态，包括微波功率器件已经取得的突破性进展和产业化现状，电力电子器件相对Si和SiC同类器件的优势和劣势，并对GaN基功率电子器件当前面临的关键科学和技术挑战进行了较详细的分析。

简介：

简介：21世纪是光的时代,光电子器件及技术快速发展,在我们身边无处不在。对比微电子器件在信息处理上的应用,我们不由得要思考为何要用光电子器件,将光电子器件用在何处,以及如何用光电子器件这几个问题。高速半导体激光器作为光通信系统中具有代表性的器件之一,在光通信和微波光子技术等领域中发挥着越来越重要的作用。系统介绍了高速直接调制激光器的基本概念,高速激光器的应用领域与分类,并讨论高速激光器面临的技术挑战与发展趋势。

简介：首先对未来系统光子器件的关键问题进行了综述。并且对半导体纳米结构，特别是基于量子点材料的超快开关器件取得的最新进展进行了讨论。其中包括基于量子点的半导体光放大器，其在超过40Gb／s的速率下展现出偏振不敏感特性；新型基于量子点的垂直腔结构的光开关，其展现出超快、节能、全光开关的特性。概括和讨论了未来基于纳米结构的光子器件的应用。

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简介：针对Nd：GGG激光器，介绍了荧光寿命测试原理，设计了低频窄脉宽荧光寿命测试系统。该系统由光源、光路系统、驱动电路和探测系统等几部分组成。利用脉冲取样技术测试了Nd：GGG晶体的荧光寿命约为250μs左右。

简介：利用先进的基于CCD的裂缝测试仪采集到试件的表面裂缝。为了计算裂缝宽度，必须准确识别出裂缝边缘。针对裂缝特征，提出了直方图法、结合法、梯度法和改进Roberts法等4种图像测量分析方法，并分别从原理上进行了解释，同时设计了实验标定图进行图像处理和测量，给出了四种分析方法的处理效果图、裂缝宽度及其误差分析。分析结果表明，类判别和数学形态学的结合法在测量裂缝方面效果较好，并将其应用于实际测量中，实践证明了该方法的有效性。

简介：根据光电跟踪测量设备在制造和修理过程中的内场测试需求,从双轴转台设计、直流力矩电动机选型、控制系统设计、靶标设计和应用软件设计等五个方面研究了双轴旋转靶标式光电测试系统设计问题。提出了基于该系统的光电跟踪测量设备的电视和红外两个通道的方位和俯仰跟踪精度、跟踪速度、跟踪加速度等功能和性能的内场测试方法。该系统具有可靠性高、测试环境可控、重复性好、效费比高等特点。

简介：对纤端光场进行了理论分析，分别利用塑料光纤和多模光纤作为接收光纤对塑料光纤的出射纤端光场进行了测量，并与理论分析结果进行了比较，给出了合理的调和参数。传输距离较长的塑料光纤由于高阶模的泄漏，纤端光场分布非常接近高斯分布。实验结果表明了理论分析结果和调和参数选择的合理性。

简介：针对目前普遍采用实测图像进行自动判读能力的测试，导致测试过程中因受环境因素影响较大，测试结果标准难以统一的问题，根据经纬仪图像目标跟踪的原理，提出了一种基于图像形态学理论的测试仿真图像建立方法。本方法通过对目标图像区域的腐蚀和扩张实现了对跟踪过程中目标图像变化的仿真，并进行了噪声的叠加和图像的平滑。实验证明此方法具有较好的仿真效果，满足测试要求。

简介：与传统宽波段成像系统相比,多光谱成像系统在性能表征、测试方法等方面有较大不同,而相关研究较为欠缺。因此,需要重点研究多光谱成像系统的综合性能评估方法。解决了目标光谱反射率等效控制、宽波段光谱维度的带内细分和标准靶标辐亮度调节等关键技术,设计了基于AOTF的多光谱成像系统二维鉴别率阈值测试平台及测试方法。在理论分析基础上,实际搭建了基于AOTF的可见光多光谱成像系统,叙述了系统标定方法和测试步骤,并基于所述方法在实验室条件下完成了系统空间分辨率、目标光谱反射率与对比度阈值的三维曲面测试实验。测试结果标明,所提出的方法可较好地反映不同谱段响应特性的差异,实现对多光谱成像系统的性能表征。基于该方法,可综合评估系统光谱分辨率、空间分辨率、灵敏度、对比度等性能指标,从而为多光谱成像系统性能的定量表征提供技术支持。

简介：通过GPIB接口,使用VC进行编程,设计了快速测量光通半导体放大器（SOA）各项性能参数的自动测试系统.该系统使得一台计算机同时控制多台光器件测试仪器,并产生详尽的数据报表.该系统提高了工作效率,降低了生产成本,并具有良好的可扩展性.

简介：提出了一种光载毫米波产生新方案，采用双平行马赫曾德调制器（DPMZM），基于线性的光相干技术，产生四倍频的毫米波信号。该技术不需要复杂的电信号处理，以及射频信号的锁相技术，便可产生稳定的毫米波信号。该方法产生的毫米波信号具有频率稳定、抖动小、信噪比高等优点，可以广泛应用于光电器件测试与校准。

简介：提出了一种相位测量方法，该方法可以准确检测从位标器陀螺仪输出的钟形光电脉冲信号峰值点的位置并以其为时间基准点进行相位测量，并可判断被测两信号之间的时间间隔以及超前滞后关系。针对在现场中的干扰因素．提出了相应的解决措施。该方法电路简单；测量速度快；精度高；可靠性好。

简介：介绍了PIN光电二极管探测器的工作原理及基本结构，设计了探测器的测试系统，说明了测试系统中各个组成部分的结构和功能。利用该系统对PIN管光探测器电路的电特性进行了测试，测试结果表明PIN光电二极管探测器的响应特性符合技术要求。

简介：受中国光学学会委托，中国光学学会光学测试专业委员会订于2014年10月下旬在江西南昌召开第十五届全国光学测试学术交流会，本届会议由南昌航空大学承办。本届年会适逢“十二五”项目实施的关键阶段，将特邀院士与国内著名专家做大会报告，广泛欢迎全国从事光学及光电测试等相关领域的科技人员参加，交流“十二五”阶段的学术研究、技术开发的新进展，研讨新动态、新领域，同时欢迎公司企事业单位到会展示技术成果，洽谈产、学、研合作。

简介：受中国光学学会委托，中国光学学会光学测试专业委员会将于2012年9月21日在四川绵阳召开第十四届全国光学测试学术交流会，本届会议由中国工程物理研究院第八研究所和第十研究所共同承办。本届年会特邀院士与国内著名专家做大会报告，将广泛欢迎全国从事光学及光电测试等相关领域的科技人员参加，交流学术研究、技术开发的新进展，研讨新动态、新领域，同时欢迎公司企事业单位到会展示技术成果，洽谈产、学、研合作。