简介：利用带微区分析功能的新型X射线荧光光谱仪，对银合金及首饰中Ag、Cu、Zn等元素进行微区原位分析，建立合理的定量分析方法。该方法具有良好的精密度和准确度，可应用于银合金及首饰的无损检测，并象电子探针测量那样避开焊点，准确地测定各元素的含量。
微区原位X射线荧光光谱法测定银合金及首饰
