简介：针对传统极谱法测定化探样品中钨钼时操作手段繁琐问题加以改进。试样以硫酸-二苯乙醇酸-二苯胍-氯酸钠体系为混合底液,将经过碱熔融后的样品以甲基橙为指示剂,用硫酸（1＋1）调酸度后,加入固定比例的混合底液,摇匀,无需定容,放置25~30min后直接测定。采用二次倒数波测定,钨峰电位在-660mV左右,钼峰电位在-30mV左右,钨钼的质量浓度在0.02~1.0μg/mL内呈线性关系,钨检出限为0.5μg/g,钼检出限为0.3μg/g。方法灵敏度高,快捷、简单,适用于大批量化探样品的测定。
简介：
简介：将WP-1米平面光栅摄谱仪改造成CCD-1型平面光栅电弧全谱直读光谱仪,在原有CCD-1平面光栅电弧直读发射光谱仪测定硼、锡、银、钼基础上,建立了一次摄谱同时测定化探样品中铅、锡、钼、铜、银、锌6种元素的分析方法。实验表明,6种元素测定的检出限分别为Pb1.56、Sn0.42、Mo0.21、Cu0.87、Ag0.012、Zn7.95μg/g,相对标准偏差(RSD,n=12)为1.3%~7.4%,方法的准确度、精密度都能满足地质矿产实验室管理的要求。
简介：介绍了在软Ｘ－射线显微术研究领域中有重要应用的Ｓｉ３Ｎ４薄膜窗口的实验室制作方法，并形成一套独特制备工艺，Ｓｉ３Ｎ４薄膜窗口的研制成功推动了我国软Ｘ射线显微术研究的发展。
极谱法测定化探样品中钨钼的技术改进
预还原氢化物发生-原子荧光光谱法快速测定化探样品中的As、Sb、Bi、Hg
CCD-1型平面光栅电弧直读发射光谱法测定化探样品中铅、锡、钼、铜、银、锌
软X射线显微术Si3N4薄膜窗口的研制
