简介:目的:探索长时间停流情况下高扬程虹吸管中空气累积现象的发生发展及其对虹吸持续工作的危害,并给出应对该现象的工程预防措施。创新点:利用物理模型实验,结合理论解析推导,得到高扬程虹吸管内空气累积的原因及关键影响因素,突破高扬程虹吸排水在少雨地区的使用局限,给出其长期适用的工程设计条件,对其在实际边坡工程中的推广应用提供理论技术指导。方法:通过物理模型试验,揭示长期停流虹吸管内出现空气累积的必然性;利用理论公式推导,对不同因素的影响结果进行对比分析,得出影响空气累积的主要因素。结论:1.溶于水的空气因压力降低而析出、管端空气溶入扩散到虹吸管顶部及温度变化引起空气析出等现象是无法避免的;其中,原有空气的析出及温度变化引起的空气累积是主要因素;2.边坡虹吸排水设计时进水端口距控制水位至少应预留2.05m的地下水位上升余量,或者保持出水口的高程比进水口高程低4.1m来保证析出卒气段处于下水管中。
简介:为了明确团聚现象及表面性质对ZnS纳米材料发光性质的影响,采用SiO2对ZnS材料进行了表面修饰,并对ZnS及ZnS/SiO2复合材料的光学性质进行对比研究。采用吸收光谱分析了包覆前后光吸收性质的差异,发现SiO2包覆后ZnS纳米材料的带边由333nm红移至360nm。为了研究ZnS纳米材料与ZnS/SiO2纳米复合材料的光发射性质,分别对含纳米材料的水溶液样品及粉末样品的发光光谱进行了采集。对比研究的结果表明,SiO2包覆后ZnS纳米材料在蓝紫光区的发光得到了明显增强。以氙灯作为激发光源所获得荧光光谱显示ZnS/SiO2粉末样品发光的积分强度增大为原来的17.5倍,但相同条件下针对溶液样品的测试结果显示其发光强度只增大了1.1倍,这种增强可用SiO2的存在抑制了ZnS纳米粒子间的团聚来解释,且这一推断由325nm紫外激光激发下获得的光致发光数据进行了验证。
简介:采用多陷阱的理论方法,模拟了不同剂量率辐照下MOS电容的总剂量效应,分析了氧化层空间电荷场效应与辐照剂量率的关系.研究了氧化层中浅能级陷阱、深能级陷阱对界面俘获电荷和半带电压的影响.研究结果表明,相对于高剂量率辐照,低剂量率在Si/SiO2界面附近俘获更多的空穴,导致产生更大的半带电压漂移;空间电荷场效应是由高、低剂量率辐射损伤差异造成的;浅能级陷阱俘获的空穴主要支配着氧化层电荷的传输特征,被深能级陷阱俘获的空穴是永久性的,是引起器件半带电压漂移的主要原因.