简介：

简介：针对目前多维次成分提取算法限制条件多和初始参数难以选择问题，在研究Douglas次子空间算法基础上，基于加权矩阵法提出了一种新型多维次成分并行提取算法。对该算法的自稳定性和收敛性分析表明：在输入信号有界和学习因子足够小时，该算法状态矩阵的模值总能收敛至一个常数；当且仅当状态矩阵收敛至需提取的多维次成分时，该算法达到稳定状态。仿真试验表明，与现有算法相比，该算法具有参数选取方法简单、易于实现和收敛速度快的优点。

简介：详细介绍了波导器件的模拟方法--束传播算法(BPM)和完好匹配层(PML)边界条件的基本原理,并给出基于有限差分的BPM的应用实例.针对算法中所采用的近似,给出BPM的适用范围和基于有限差分的束传播算法的优化方案.

简介：近两年来,网络游戏和手机短信等与信息产业相关的业务应用之火爆成为媒体争相报道的热门话题.许多学者和分析家们此前就曾预言,信息产业和文化产业是中国今后发展速度较快、最具投资价值的两个产业群.现在,这两个产业群正逐渐形成合流的趋势,并主要体现为由娱乐内容和娱乐体验带动的爆发式经济增长.在发达国家,以美国电子艺界公司等企业为例,它们已经成为无论是对娱乐业还是对IT业来说都是名副其实的新贵.同样,近期在国内频频亮相的盛大网络公司,该公司仅仅通过代理韩国的网络游戏就获得了巨额的利润,并在短短三年中成为据估计市价已达数十亿元的娱乐企业.无疑,人们已经无法忽视信息文化娱乐产业这个概念和其中所蕴涵的巨大商机.而更重要地是,文化娱乐业和信息产业的联姻,正在创造一种我称之为前所未有的无边界娱乐的巨大市场.

简介：利用边界元法编制了计算磁控注入枪的程序，并使用该程序设计和模拟一个工作在35GHz，70kV，10A基波回旋放大器的单阳极磁控注入枪，得到较好的计算结果。并给出了工作电压、磁场分布对电子束性能的影响。结果表明，边界元法在分析磁控注入枪系统和回旋器件电子光学方面是一种非常有效的方法。

简介：安全性需求的提取是确保软件安全的关键。介绍了安全性需求的定义、目的以及种类，研究了当今主要的安全性需求提取方法，指出了未来安全性需求研究的重点和发展方向。

简介：电离层斜向探测工作在高频段,密集的外部干扰如短波通信,广播电台以及大气噪声等污染了接收数据,严重影响斜向探测电离图描迹的提取.针对上述问题,本文提出了一种提取斜向探测电离图描迹的算法.该算法由频域去干扰,有序统计量OS-CFAR检测,去虚警点三个步骤构成.对实测数据的处理结果表明这种方法的有效性和实用性.

简介：摘要为了全面提高RPN网络提取预选框的召回率(recall)，提出一种全新优化RPN网络的算法，首先，使用深层网络特征图训练一个RPN网络，称之为深层RPN，其次，使用浅层网络特征图训练一个RPN网络，称之为浅层RPN，最后，通过弱化的非极大值(soft-NMS)算法将深层RPN和浅层RPN输出的预选框进行融合，从而，全面提高预选框的抓取潜在目标的能力。基于PASCALVOC数据集的训练和测试实验表明，该优化后的预选框提取网络比RPN提取预选框的召回率提高7%。

简介：基于时域和频域两种循环谱密度估计方法,研究和总结了Frank码信号的循环谱特征及其与信号参数的对应关系。提出了一种没有先验知识条件下Frank码截获信号参数提取方法。首先介绍了Frank码信号的表示形式,给出了信号主要参数之间的关系;然后使用时域和频域两种循环谱密度函数估计方法分析了信号的循环谱特征,得到了循环谱特征与信号参数之间的对应关系;在此基础上提出了基于循环谱特征的信号参数提取方法。通过对六个Frank码信号参数提取相对误差的计算,验证了该算法的有效性。

简介：针对利用雷达侦察信号挖掘雷达脉冲重复间隔（PRI）模式问题，提出了一种基于频繁项集挖掘的雷达PRI模式提取方法。首先，对PRI值进行离散化聚簇分析，将杂乱的PRI数据变成一组PRI特征值，并按照时间、方位及载频进行聚类分析，从而将同时侦测到的数据归为一类；然后，按类分别提取PRI特征值，得到以PRI特征值为元素的频繁项集；最后，对PRI特征进行关联提取，挖掘出雷达PRI模式。在Spark集群中仿真分析表明，该方法能够从海量数据中并行、高效和准确提取雷达辐射源的PRI特征参数模式。

简介：提出了基于小波去噪结合自适应阈值的Canny算子进行返回散射电离图前沿提取的方法；简单介绍了小波变换去除噪声和用Canny算子进行边缘检测的基本步骤,结合返回散射电离图的统计特性和基本全局阈值技术,提出一种自适应阈值方法进行Canny算子硬阈值的确定方法.所研究的方法可有效的降低噪声对返回散射电离图前沿提取的影响,将返回散射电离图前沿成功提取出来.

简介：从工程应用的角度介绍了一种基于总剂量效应的SOI器件模型参数的快速提取方法。首先，提取0krad（Si）时器件的模型参数，然后针对总剂量敏感参数，对100krad（Si）总辐射试验后的同种器件进行模型参数优化，并对得到的模型参数进行验证。结果表明，该方法所提取的模型参数准确有效，解决了国内目前在抗辐照SOI工艺中因采用标准SOI工艺SPICE模型（如BSIMSOI等）导致不能反映辐照效应对器件特性的影响且无法给出经过不同辐照剂量之后的器件特性的缺点，可用于评估辐射对SOI电路的影响。

简介：文化娱乐业和信息产业的联姻，正创造着一种前所未有的无边界娱乐的巨大市场。